Contacta con nosotros
Perfil superficial de la placa de orientación de luz para LCD/Medición de forma en 3D sin contacto usando un microscopio láser
Aplicación
Las películas especiales son laminadas juntas en un sistema óptico para ayudar a que las pantallas de cristal líquido (LCD) mantengan un brillo uniforme. Las pantallas pequeñas utilizan una pequeña placa de orientación de luz para ayudar a orientar la luz a través del panel. La luz de una fuente, como los LED instalados a lo largo del borde de una pantalla de panel, es dispersada por la placa y reflejada repetidamente para iluminar la parte delantera de dicho panel. La densidad de las irregularidades superficiales en la placa de orientación de luz ha sido desarrollada para que la dispersión aumente a medida que la luz se aleja de la fuente. La placa difusora hace que la luz irradiada desde la placa sea uniforme. Dicha luz será captada posteriormente por la lámina del prisma donde se intensifica y se dirige a través del panel TFT. La evaluación del perfil superficial o rugosidad de la placa de orientación de luz es importante para garantizar un brillo uniforme en las pantallas LCD.
Solución Olympus
El microscopio láser de escaneo 3D LEXT de Olympus permite medir el ángulo de conicidad de la placa de orientación de luz y la inclinación o altura de altos a bajos con altos niveles de resolución y definición. Gracias a las lentes especiales del objetivo con altas aperturas numéricas y al sistema óptico avanzado desarrollado para ofrecer un rendimiento óptimo con un láser de 405 nm, el LEXT puede capturar el perfil de pendientes irregulares que antes eran imposibles de detectar. De esta forma, usted puede adquirir datos tridimensionales más fiables y garantizar la calidad de las placas guía de luz.
Perfil superficial tridimensional de una placa de orientación de luz
Lente del objetivo 100X con zoom (aumento) de 1x.
Productos relacionados
LEXT OLS5500
Perfilómetro óptico 3D híbrido
- Mediciones de superficie trazables de nanómetros a micrómetros
- Microscopía de escaneo láser (LSM), interferometría de luz blanca (WLI) y microscopía de variación de enfoque (FVM) en una sola plataforma premiada
- Primer perfilómetro óptico 3D que ofrece precisión y repetibilidad* garantizadas para mediciones LSM y WLI.
- El modo WLI ofrece una capacidad de procesamiento de mediciones hasta 40 veces superior a la de la LSM convencional.
- Precisión excepcional en todas las superficies gracias a óptica de ingeniería propia
- Interfaz intuitiva y automatización inteligente que agilizan la operación para usuarios de todos los niveles
- Flujos de trabajo de alta capacidad de procesamiento optimizados con IA mediante la integración con el software PRECiV™
* Basado en la investigación interna de Evident a octubre de 2025. La exactitud y repetibilidad garantizadas solo se aplican si el dispositivo se ha calibrado según las especificaciones del fabricante y se encuentra libre de defectos. La calibración la debe llevar a cabo un técnico de Evident o un especialista autorizado por Evident.
LEXT OLS5100
El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.