Soluciones de inspección y medición de dispositivos 5G
Análisis rápido de defectos
Análisis de obleas (plaquetas) electrónicas semiconductoras usadas en dispositivos de alta frecuencia
Desafíos en la medición de obleas semiconductoras
La inspección de defectos en obleas suele llevarse a cabo con microscopios metalúrgicos. Existe un problema común que es perder de vista un defecto cuando se cambia a un objetivo de magnificación superior para obtener una imagen ampliada.
Procesamiento de imágenes flexible para una medición rápida de obleas
El microscopio digital DSX1000 permite alternar las observaciones, como el contraste de interferencia diferencial, con tan solo tocar un botón. Además, el zoom óptico del microscopio ejecuta un procesamiento de imágenes macro a micro para no perder de vista ningún defecto.
Observación DIC para defectos de obleas (plaquetas) electrónicas:
Un método de observación adecuado para visualizar irregularidades, materias extrañas y rayaduras a escala nanoscópica.
Observación de residuos remanentes en materiales de semiconductores
Desafíos de la inspección con microscopía óptica
Los residuos remanentes pueden pasarse por alto aunque se utilice un microscopio óptico. Es importante elegir un microscopio que cuente con las funciones adecuadas para esta aplicación..
Detección sencilla de residuos remanentes
El microscopio vertical metalúrgico BX53M permite la observación de fluorescencia para ofrecer una solución de detección de residuos orgánicos remanentes con propiedades emisoras de luz. Podrá distinguir los residuos remanentes de otros elementos contaminantes por las diferencias en sus características de emisión.
Observación MIX (fluorescencia y campo oscuro): Material remanente en un patrón de circuito integrado (CI)
Observación MIX (fluorescencia y campo oscuro): Residuos fotorresistentes en una muestra de oblea
Observación del estado de la moldura en guías de ondas de comunicación ópticas
Desafíos de inspección usando un microscopio digital o un microscopio de medición
Las guías de ondas ópticas pueden observarse usando un microscopio de medición de luz transmitida o un microscopio digital tradicional, pero la imagen de observación será borrosa o poco clara.
Observación clara del estado de la moldura
Si se combina con la cámara microscópica digital DP75, el alto rendimiento óptico y la función de contraste de interferencia diferencial del microscopio vertical metalúrgico BX53M le permiten observar de forma clara y capturar imágenes de alta resolución del estado de la moldura de una guía de onda óptica.
