Microscopio vertical BX53M

Name: Microscopio vertical BX53M | Evident Scientific | Olympus
Brand: Evident
SKU: bx53m
Availability: InStock

Diseñada dando prioridad a la modularidad, la serie BX3M proporciona versatilidad para un amplio abanico de aplicaciones industriales y de ciencia de materiales.

Microscopios industriales BX53M

Microscopía avanzada simplificada

Con un diseño que pone énfasis en la modularidad, la serie BX3M proporciona versatilidad para una amplia serie de aplicaciones industriales y de ciencia de los materiales. Mediante una integración mejorada a través del software PRECiV, el BX53M ofrece un flujo de trabajo sin problemas para los usuarios de la microscopía estándar y procesamiento de imágenes digitales, desde la observación hasta la creación de informes.

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/BX3M_SUBTITLEMASTER(3)_480.mp4

BX53M with DP75

Elija el mejor modelo

Hay seis sugerencias de configuración para el BX53M a fin de ofrecerle la flexibilidad deseada según las características que requiere.

Para un uso general: básico (Entry), estándar (Standard), avanzado (Advanced)
Para uso específico: fluorescencia (Fluorescence), infrarrojo (Infrared), polarización (Polarization)
Varias configuraciones para satisfacer los requisitos de los usuarios
Diseño modular: Construya su sistema a su manera

Cómodo y fácil de usar

El BX53M simplifica las complejas tareas de microscopía a través de unos controles bien diseñados y fáciles de usar. Los usuarios pueden sacar el máximo rendimiento del microscopio sin necesidad de una formación extensa. El funcionamiento fácil y cómodo del BX53M también mejora la reproducibilidad mitigando el error humano.

Iluminador sencillo
Controles intuitivos del microscopio
Encuentre el enfoque rápidamente
Iluminación homogénea
Funcionamiento sencillo y ergonómico
Fácil recuperación de los parámetros
Funciones de medición básicas

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/image/ie/bx53m/movie_bx53m_overview_01.mp4

Funcional

El BX53M continua ofreciendo los métodos tradicionales de contraste de la microscopía convencional, como el campo claro, el campo oscuro, la luz polarizada y el contraste de interferencia diferencial. A medida que se desarrollan nuevos materiales, muchas de las dificultades asociadas a la detección de defectos por los métodos de contraste estándar pueden ser resueltas a través de técnicas avanzadas de microscopía con el fin de llegar a inspecciones más precisas y fiables. Por tanto, las nuevas técnicas y opciones de iluminación para la adquisición de imágenes que trae el alberga el software PRECiV ponen al alcance de los usuarios más opciones para evaluar sus muestras y documentar los hallazgos.

Cree imágenes totalmente enfocadas
Desplace fácilmente la platina para captar panorámicas
Capture tanto áreas claras como oscuras
Flexibilidad para adaptarse a las preferencias de observación y análisis
Adaptabilidad a una amplia variedad de muestras

Óptica de vanguardia

Nuestra historia se ha centrado en el desarrollo de una óptica de alta calidad, que nos ha llevado a superar el récord de una óptica de elevada calidad comprobada y microscopios de excelente precisión de medición.

Rendimiento óptico superior
Iluminación con LED blanco de alta intensidad y temperatura de color estable
Facilita una medición precisa
Aplicación mosaico sin problemas

_{Control de aberración de frente de onda}

_{Frente de onda incorrecto}

_{Frente de onda correcto (objetivo UIS2)}

Configuraciones

Sistema modular altamente fiable

A continuación, se proporcionan seis sugerencias de configuración de la serie BX53M para brindarle la flexibilidad de elegir las características necesarias a su aplicación.

Uso general

Use específico

Entry (básico)

Fácil configuración con características básicas

Standard (estándar)

Fácil de utilizar con
actualizaciones versátiles

Advanced (avanzado)

Admite numerosas funciones avanzada

Fluorescence (fluorescencia)

Adecuado para
la observación de fluorescencia

Infrared (infrarrojo)

Desarrollado para la observación de la luz infrarroja (infrarrojo) a fin de inspeccionar circuitos integrados

Polarization (polarización)

Desarrollado para observar las características de birrefringencia

LCD color filter

_{Filtro de color LCD}

^{(Transmitida/BF)}

Microstructure with ferritic grains

_{Microestructura con granos}
^ferríticos
^{(Reflejada/DF)}

Copper wire of coil

_{Hilo de cobre de bobina}
^{(BF + DF/MIX)}

Resist on IC pattern

_{Resinas en patrón de circuito impreso}
^{(FL + DF/MIX)}

Silicon layering IC pattern

_{Estratificación de silicio en patrón de circuito impreso}
^(IR)

Asbestos

_Amianto
^(POL)

	Entry (básico)	Standard (estándar)	Advanced (avanzado)	Fluorescence (fluorescencia)	Infrared (infrarrojo)	Polarization (polarización)
Estativo del microscopio	Reflejada o reflejada/transmitida		Reflejada o reflejada/transmitida		Reflejada	Transmitida
Estándar	R-BF o T-BF	R-BF o T-BF o DF	R-BF o T-BF o DF o MIX	R-BF o T-BF o DF o FL	R-BF o IR	T-BF o POL
Opción	DIC	DIC/MIX	DIC	DIC/MIX	－	－
Iluminador sencillo	－			－	－	－
Leyenda de apertura	－				－
Hardware codificado	－				－
Índice de escala de enfoque
Control de intensidad de luz				－	－
Funcionamiento del interruptor manual					－	－
Observación MIX					－	－
Objetivos	Seleccione entre los tres objetivos según sus aplicaciones		Seleccione entre los tres objetivos según sus aplicaciones			Objetivos para la luz polarizada

MÉTODO DE OBSERVACIÓN

R-BF: Campo claro (Reflejada)
T-BF: Campo claro (Reflejada/transmitida)
DF: Campo oscuro
DIC: Contraste de interferencia diferencial / polarización sencilla
MIX: Observación combinada
FL: Fluorescencia
IR: Infrarrojo
POL: Polarización

_{*La observación T-BF puede usarse al seleccionar el estativo del microscopio de luz reflejada/luz transmitida.}

: Estándar
: Opción

Ejemplos de configuraciones para la ciencia de materiales

Diseño modular que permite varias configuraciones para satisfacer los requisitos de los usuarios.
A continuación, puede encontrar algunos ejemplos de configuración para la ciencia de materiales.

Serie BX53M con combinación de luz reflejada y luz reflejada/transmitida

Hay dos tipos de estativos microscópicos en la serie BX3M, uno sirve para la luz reflejada y el otro para la luz reflejada y la transmitida. Ambos estativos pueden configurarse con componentes manuales, codificados o motorizados. Los estativos están equipados con la capacidad de descarga electrostática (ESD) para proteger las muestras electrónicas.

Ejemplo de configuración del BX53MRF-S

_{Ejemplo de configuración del BX53MRF-S}

Ejemplo de configuración del BX53MTRF-S

_{Ejemplo de configuración del BX53MTRF-S}

Combinación IR del BX53M

Los objetivos infrarrojos (de luz infrarroja) son usados en las aplicaciones de inspección, medición y procesamiento de semiconductores en las que se requiere un procesamiento de imágenes del silicio para ver el patrón. Los objetivos infrarrojos (IR) de 5X a 100X cuentan con la corrección de aberraciones cromáticas aplicable desde las longitudes de onda de luz visible hasta las del infrarrojo cercano. En los trabajos de alta magnificación, rotar el collar de corrección de la serie de lentes LCPLNIR permitirá corregir las aberraciones causadas por el espesor de la muestra. Con un solo objetivo, es posible obtener una imagen clara.

Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo IR.

Combinación de luz polarizada del BX53M

Los objetivos ópticos de polarización BX53M habilitan a los geólogos con las herramientas necesarias para un procesamiento de imágenes óptico con luz polarizada de alto contraste. Tanto la identificación de minerales, la investigación de características ópticas de los cristales, la observación de secciones de roca sólida así como otras aplicaciones benefician de la estabilidad del sistema y la alineación óptica precisa.

Configuración ortoscópica del BX53-P

_{Configuración ortoscópica del BX53-P}

Configuración conoscópica/ortoscópica del BX53-P

_{Configuración conoscópica/ortoscópica del BX53-P}

Lente Bertrand para observaciones conoscópicas y ortoscópicas

La alternación entre la observación ortoscópica y conoscópica puede llevarse a cabo de forma fácil y rápida con un accesorio de observación conoscópica U-CPA. Su tipo enfocable permite visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. El tope de campo Bertrand permite obtener imágenes conoscópicas claras y nítidas constantemente.

Amplia variedad de compensadores y placas de onda

Existen cinco compensadores diferentes para medir la birrefringencia en secciones finas de rocas y minerales. El retardo de medición oscila entre 0 y 20 λ. Para llevar a cabo mediciones más fáciles y obtener imágenes de alto contraste, es posible usar los compensadores Berek y Senarmont que cambian el nivel de retardo a través del completo campo visual.

Compensador

Rango de medición

Aplicación principal

Berek [grueso] (U-CTB)

De 0 a 11,000 nm
(20 λ)

Medición del nivel de retardo alto (R^*>3 λ)
(cristales, macromoléculas, fibras, etc.)

Berek (U-CBE)

De 0 a 1,640 nm
(3 λ)

Medición del nivel de retardo
(cristales, macromoléculas, organismos vivos, etc.)

Compensador Senarmont (U-CSE)

De 0 a 546 nm
(1 λ)

Medición del nivel de retardo (cristales, organismos vivos, etc.)
Optimización del contraste de imagen (organismos vivos, etc.)

Compensador Brace-Koehler
1/30 λ (U-CBE2)

De 0 a 20 nm
(1/30 λ)

Medición del contraste de imagen (organismos vivos, etc.)

Cuña de cuarzo (U-CWE2)

De 500 a 2,200 nm
(4 λ)

Medición aproximada del nivel de retardo
(cristales, macromoléculas, etc.)

Rango de medición de los compensadores

_{*R = nivel de retardo}
_{Para una medición más precisa, se recomienda que los compensadores (excepto el U-CWE2) se usen junto con el filtro de interferencia 45-IF546.}

Objetivos ópticos sin tensión

Gracias a nuestra sofisticada tecnología de diseño y fabricación, los objetivos sin tensión UPLFLN-P reducen la presión interna al mínimo. Esto significa un valor de factor de extinción (EF) aún más elevado para un óptimo contraste de imagen.

Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo UPLFLN-P

Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo PLN-P / ACHN-P

Sistema BXFM

El BXFM puede adaptarse a aplicaciones especiales o integrarse en otros instrumentos. La construcción modular proporciona una adaptación directa a entornos y configuraciones únicos con una variedad de iluminadores pequeños especiales y soportes de fijación.

Diseño modular para un sistema a su manera

Estativos microscópicos

Hay dos estativos microscópicos para la luz reflejada y uno también presenta la capacidad de luz transmitida. Hay un adaptador disponible para elevar el iluminador con el fin de adaptarse a las muestras de mayor altura.

		Luz reflejada	Luz transmitida	Altura de la muestra
1	BX53MRF-S	■	－	Desde 0 hasta 65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	Desde 0 hasta 35 mm
1, 3	BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	■	－	Desde 40 hasta 105 mm
2, 3	BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	■	■	Desde 40 hasta 75 mm

Accesorios prácticos para su uso en microscopía

－	HP-2	Hand press
－	COVER-018	Dust cover

Soportes

Para aplicaciones de microscopía en las que la muestra no encaja en un estativo; el iluminador y los objetivos ópticos pueden montarse en un soporte de mayor tamaño o en otro dispositivo.

Configuración del iluminador de BXFM + BX53M

1	BXFM-F	La interfaz del estativo es un pilar de sujeción de 32 mm para montaje en pared
2	BX3M-ILH	Soporte del iluminador
3	BXFM-ILHSPU	Resorte de descarga para BXFM
5	SZ-STL	Soporte grande

Configuración del iluminador de BXFM + U-KMAS

1	BXFM-F	La interfaz del estativo es un pilar de sujeción de 32 mm para montaje en pared
4	BXFM-ILHS	Soporte de U-KMAS
5	SZ-STL	Soporte grande

Tubos

Para el procesamiento microscópico de imágenes con oculares o para la observación por cámara, seleccione los tubos según el tipo de procesamiento de imágenes y la postura de operación requeridos durante la observación.

		FN	Tipo	Tipo de ángulo	Imagen	Número de mecanismos de ajuste de dioptrías
1	U-TR30-2	22	Trinocular	Fijación	Invertida	1
2	U-TR30IR	22	Trinocular para infrarrojos	Fijación	Invertida	1
3	U-ETR-4	22	Trinocular	Fijación	Vertical	－
4	U-TTR-2	22	Trinocular	Inclinable	Invertida	－
5	U-SWTR-3	26,5	Trinocular	Fijación	Invertida	－
6	U-SWETTR-5	26,5	Trinocular	Inclinable	Vertical	－
7	U-TLU	22	Puerto simple	－	－	－
8	U-SWATLU	26,5	Puerto simple	－	－	－

Iluminadores

El iluminador proyecta la luz sobre la muestra según el método de observación seleccionado. El software se comunica con los iluminadores codificados para leer la posición del cubo y reconocer automáticamente el método de observación.

		Coded function	Light source	BF	DF	DIC	POL	IR	FL	MIX	AS/FS
1	BX3M-RLAS-S	Fixed 3 cube position	LED - Built in	■	■	■	■	－	－	■	■
2	BX3M-URAS-S	Attachable 4 cube position	LED	■	■	■	■	－	－	■	■
			Halogen	■	■	■	■	■	－	■	■
			Mercury/Light guide	■	■	■	■	－	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	－	－	■	■
3	BX3M-RLA-S		Halogen	■	■	■	■	■	－	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED - Built in	■	－	■	■	－	－	■	－
5	BX3-ARM	Mechanical arm for transmitted light
6	U-KMAS		LED	■	－	■	■	－	－	■	－
6	U-KMAS		Halogen	■	－	■	■	■	－	■	－

Fuentes de luz

Fuentes de luz y fuentes de alimentación para la iluminación de las muestras. Seleccione la fuente de luz adecuada para el método de observación.

Configuración de fuente de luz LED estándar

1	BX3M-LEDR	Portalámparas de lámpara LED para luz reflejada
2	U-RCV	Convertidor de campo oscuro para BX3M-URAS-S, necesario para la observación con campo oscuro y campo claro en caso se requiera
3	BX3M-PSLED	Fuente de alimentación para portalámparas de lámpara LED, necesita el sistema BXFM
4	BX3M-LEDT	Portalámparas de lámpara LED para luz transmitida

Configuración de fuente de luz de fluorescencia

5	U-LLGAD	Adaptador de guía de luz
2	U-RCV	Convertidor de campo oscuro para BX3M-URAS-S, necesario para la observación con campo oscuro en caso se requiera
6	U-LLG150	Guía de luz, longitud: 1,5 m
7	U-LGPS	Fuente de luz para fluorescencia
8, 9	U-LH100HG (HGAPO)	Portalámparas para lámpara de mercurio dedicada a la fluorescencia
2	U-RCV	Convertidor de campo oscuro para BX3M-URAS-S, necesario para la observación con campo oscuro en caso se requiera
10	U-RFL-T	Fuente de alimentación para lámpara de mercurio de 100 W

Configuración de fuente de luz halógena y luz infrarroja

11	U-LH100IR	Portalámparas de lámpara halógena para infrarrojos
12	U-RMT	Cable de extensión para el portalámparas de lámpara halógena, longitud del cable 1,7 m (requiere cable de extensión cuando es necesario)
13, 14	TH4-100 (200)	Especificación de la fuente de energía de 100 V (200 V) para la lámpara halógena de 100 W/50 W
15	TH4-HS	Interruptor manual para la intensidad de luz de halógena [atenuador TH4-100 (200) sin interruptor manual]

Portaobjetivos

Sujeción para objetivos y deslizadores. Seleccione según el número y tipos de objetivos necesarios; también con/sin fijación de deslizador.

		Type	Holes	BF	DF	DIC	MIX	ESD	Number of centering holes
1	U-P4RE	Manual	4	■		■			4
2	U-5RE-2	Manual	5	■
3	U-5RES-ESD	Coded	5	■				■
4	U-D6RE	Manual	6	■		■
5	U-D6RES	Coded	6	■		■
6	U-D5BDREMC	Motorized	5	■	■	■	■
7	U-D6BDRE	Manual	6	■	■	■	■
8	U-D5BDRES-ESD	Coded	5	■	■	■	■	■
9	U-D6BDRES-S	Coded	6	■	■	■	■	■
10	U-D6REMC	Motorized	6	■		■
11	U-D6BDREMC	Motorized	6	■	■	■	■	■
12	U-D5BDREMC-VA	Motorized	5	■	■

Deslizadores

Seleccione el deslizador para complementar la observación tradicional. El deslizador DIC brinda información topográfica acerca de la muestra con opciones para maximizar el contraste o la resolución. El deslizador MIX proporciona flexibilidad de iluminación con una fuente de LED en la trayectoria del campo oscuro.

Deslizador DIC

		Tipo	Cantidad de flexibilidad transversal	Objetivos disponibles
1	U-DICR	Estándar	Mediano	MPLFLN^1, MPLFLN-BD^2, LMPLFLN, LMPLFLN-BD, MXPLFLN, MXPLFLN-BD, MPLAPON, and LCPLFLN-LCD

*1 Con 1.25X y 2.5X no se soporta la observación DIC.
*2 Con 2.5X no se soporta la observación DIC.

Deslizador MIX

		Objetivos disponibles
2	U-MIXR-2	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD, MXPLFLN-BD

Cable

U-MIXRCBL^*

Cable de U-MIXR, longitud del cable: 0,5 m

*MIXR solamente

Caja de control e interruptores manuales

Cajas de control para establecer la comunicación entre el hardware del microscopio, un(a) PC y los interruptores manuales para la visualización y control del hardware.

Configuración de la caja de control BX3M-CB (CBFM)

1	BX3M-CB	Caja de control para el sistema BX53M
2	BX3M-CBFM	Caja de control para el sistema BXFM
3	BX3M-HS	Control de observación MIX, indicador de hardware codificado, botón de función de software (PRECiV)
4	BX3M-HSRE	Rotación de portaobjetivos motorizado

Cable

－

BX3M-RMCBL (ECBL)

Cable de portaobjetivos motorizado, longitud del cable: 0,2 m

Platinas

Platinas y placas de platinas para la colocación de la muestra. Seleccione la platina según la forma y tamaño de la muestra.

Configuración de platina de 150 mm × 100 mm

1	U-SIC64	Platina plana con empuñadura de superficie superior (150 mm × 100 mm)
2	U-SHG (T)	Manejo mejorado mediante empuñadura de silicona (tipo grueso)
3	U-SP64	Placa de platina para U-SIC64
4	U-WHP64	Placa de oblea semiconductora para U-SIC64
5	BH2-WHR43	Soporte de oblea semiconductora de 4 a 3 pulg.
6	BH2-WHR65	Soporte de oblea semiconductora de 6 a 5 pulg.
7	U-SPG64	Placa de vidrio para U-SIC64

Configuración de platina de 76 mm × 52 mm

12	U-SVR M	Platina con empuñadura derecha de 76 mm × 52 mm
2	U-SHG (T)	Manejo mejorado mediante empuñadura de silicona (tipo grueso)
13	U-MSSP	Placa de platina para U-SVR (/L) M
14, 15	U-HR (L) D-4	Soporte para portaobjetos delgado dedicado a la apertura correcta (izquierda)
16, 17	U-HR (L) DT-4	Soporte para portaobjetos grueso dedicado a la apertura correcta (izquierda); tiene como fin presionar el cristal del portaobjetos contra la superficie superior de la platina; la muestra será difícil de levantar.

Configuración de platina de 100 mm × 100 mm

8	U-SIC4R 2	Platina con empuñadura derecha de 105 mm × 100 mm
9	U-MSSP4	Placa de platina para U-SIC4R (L) 2
10	U-WHP2	Placa de oblea semiconductora para U-SIC4R (L) 2
5	BH2-WHR43	Soporte de oblea semiconductora de 4 a 3 pulg.
11	U-MSSPG	Placa de vidrio para U-SIC4R

Otros

18	U-SRG2	Platina giratoria
19	U-SRP	Platina giratoria para el método de observación POL; la función de clic de enganche puede ser de 45° desde cualquier posición.
20	U-FMP	Platina mecánica para U-SRP/U-SRG2

Adaptadores para cámara

Adaptador para la observación por cámara. Seleccionable desde el campo visual y magnificación necesarios. El rango de la observación real puede calcularse mediante esta fórmula: campo de visión real (mm de diagonal) = visualización de campo (número de visualización) ÷ magnificación del objetivo.

		Magnification	Centering adjustment	CCD image area (field number) mm
		Magnification	Centering adjustment	2/3 inch	1/1.8 inch	1/2 inch
1	U-TV1x-2 with U-CMAD3	1	－	10.7	8.8	8
2	U-TV1xC	1	ø2 mm	10.7	8.8	8
3	U-TV0.63xC	0.63	－	17	14	12.7
4	U-TV0.5xC-3	0.5	－	21.4	17.6	16
5	U-TV0.35xC-2	0.35	－	－	－	22

Oculares

Los ocular permiten visualizar directamente a través del microscopio. Seleccione su ocular según el campo visual deseado.

		FN (mm)	Mecanismo de ajuste dióptrico	Retícula cruzada integrada
1	WHN10X	22
2	WHN10X-H	22	■
3	CROSS WHN10x	22	■	■
4	SWH10x-H	26,5	■
5	CROSS SWH10x	26,5	■	■

Filtros ópticos

Los filtros ópticos convierten la luz expuesta hacia la muestra en diferentes tipos de iluminación. Seleccione el filtro adecuado según los requisitos de observación.

BF, DF, FL

1, 2	U-25ND25,6	Filtro de densidad neutra, transmitancia de 25 %, 6 %
3	U-25LBD	Filtro de color de luz diurna
4	U-25LBA	Filtro de color de luz halógena
5	U-25IF550	Filtro verde
6	U-25L42	Filtro de corte UV
7	U-25Y48	Filtro amarillo
8	U-25FR	Filtro de difusión baja/media (frost) [requerido para BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9	U-AN-2	La dirección de la polarización es fija
10	U-AN360-3	La dirección de la polarización es giratoria
11	U-AN360P-2	La dirección de la polarización de alta calidad es giratoria
12	U-PO3	La dirección de la polarización es fija
13	45-IF546	Filtro verde de ø 45 mm para el método de observación POL

IR

14	U-AN360IR	La dirección de la polarización infrarroja es giratoria (reduce el halo en la observación del infrarrojo al usar la combinación U-AN360IR y U-POIR)
15	U-POIR	La dirección de polarización infrarroja es fija
16	U-BP1100IR	Filtro de paso de banda: 1100 nm
17	U-BP1200IR	Filtro de paso de banda: 1200 nm

Luz transmitida

18	43IF550-W45	Filtro verde de ø 45 mm
19	U-POT	Filtro polarizador

Otros

U-25

Filtro vacío; para usar con filtros de ø de 25 mm del usuario

*AN y PO no son necesarios al usar BX3M-RLAS-S y U-FDICR

Condensadores

Los condensadores recogen y enfocan la luz transmitida. Sirve para la observación con luz transmitida.

1	U-AC2	Condensador Abbe (disponible desde objetivos de 5x)
2	U-SC3	Condensador abatible (disponible desde objetivos de 1.25x)
3	U-LWCD	Condensador de larga distancia de trabajo para placa de vidrio (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Condensador abatible para POL

Cubos de espejos

Cubo de espejos para BX3M-URAS-S. Seleccione la unidad para la observación necesaria.

1	U-FBF	Para observación BF; filtro de densidad neutra (D. N.) desmontable
2	U-FDF	Para DF
3	U-FDICR	Para observación POL; la posición de los prismas transversales de Nicol es fija.
4	U-FBFL	Para observación BF; filtro de densidad neutra integrado [se requiere tanto para BF* como para FL).
5	U-FWUS	Para observación FL-ultra violeta: BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	Para observación FL-azul: BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	Para observación FL-verde: BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Unidad de espejo vacía

_{*Solo para la iluminación episcópica coaxial}

Tubos intermedios

Diferentes tipos de accesorios para varios propósitos. Para su uso entre el tubo y el iluminador.

1	U-CA	Cambiador de magnificaciones (1X, 1.25X, 1.6X, 2X)
2	U-TRU	Unidad intermedia del trinocular

Objetivos UIS2

Los objetivos sirven para ampliar la observación de su muestra. Seleccione el objetivo que se adapte a la distancia de trabajo, el poder de resolución y el método de observación de cada aplicación.

Haga clic aquí para obtener más información acerca de las lentes de objetivo UIS2

Facilidad de uso

Técnicas tradicionales facilitadas:Iluminador sencillo

El iluminador reduce las acciones complicadas que generalmente son necesarias durante el manejo de un microscopio. Su rueda de ajuste, situada en la parte frontal del iluminador, permite al usuario cambiar fácilmente el método de observación. El operador, por su parte, puede alternar de forma rápida los métodos de observación habitualmente usados en la microscopía con luz reflejada (p. ej., del campo claro al campo oscuro o a la luz polarizada) con el fin de poder habilitar inmediatamente diferentes tipos de análisis. Asimismo, la observación con luz polarizada simple puede ajustarse al girar el analizador.

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/image/ie/bx53m/movie_bx53m_overview_01.mp4

Controles microscópicos intuitivos:Ajustes sencillos de tope de apertura y campo

Usar los parámetros correctos de tope de apertura y tope de campo brindan un buen contraste de la imagen y sacan máximo provecho de la apertura numérica del objetivo. La leyenda guía al usuario al parámetro correcto de acuerdo con el método de observación y el objetivo en uso.

Encuentre el enfoque rápidamente

El índice escalar de enfoque situado en el estativo permite acceder rápidamente al punto focal. Los operadores pueden ajustar el punto focal sin visualizar la muestra a través de un ocular, lo que supone un ahorro de tiempo al inspeccionar muestras que tienen alturas diferentes.

Hand switch for motorized nosepiece rotation

Funcionamiento sencillo y ergonómico

La eficacia de trabajo del usuario reposa en el diseño de un sistema. Los usuarios de microscopios monopuestos y aquellos que integran el software de análisis de imágenes PRECiV se benefician de los prácticos controles de mando que exponen claramente la posición del hardware. El mando simple permite al usuario centrarse en su muestra y en la inspección que debe realizar.

Para una iluminación homogénea:Control de intensidad de luz

Durante la configuración inicial, la intensidad de la iluminación puede ser determinada para satisfacer la configuración específica del hardware del iluminador y el portaobjetivos codificados.

Para restablecer los ajustes del microscopio:Hardware codificado

Las funciones codificadas combinan los parámetros del sistema del BX53M con el software de análisis de imágenes PRECiV. El software registra automáticamente el método de observación, la intensidad de iluminación y la magnificación, y almacena estos parámetros con las imágenes asociadas. Los resultados de inspección son entonces fiables, ya que los operadores pueden ejecutar inspecciones con los mismos parámetros de observación.

Funcionalidad

Revelar lo invisible:Observación MIX

La tecnología de observación combinada (MIX) del microscopio BX53M permite usar métodos de iluminación tradicional con la iluminación de campo oscuro. Al usar el deslizador MIX, el anillo de LED que posee ilumina el campo oscuro direccional sobre la muestra. Esto produce un efecto similar al campo oscuro tradicional, aunque ofrece la capacidad de seleccionar un cuadrante de los LED a fin de dirigir la luz a partir de ángulos diferentes. Esta combinación entre campo oscuro y campo claro, fluorescencia o polarización direccional se denomina método de iluminación MIX y es especialmente útil para hacer destacar los defectos y diferenciar las superficies elevadas de las cóncavas.

Crear imágenes totalmente enfocadas: EFI

La función de imagen focal extendida (EFI) del software PRECiV captura imágenes de muestras cuya altura es superior a la de la profundidad de enfoque del objetivo y las apila para crear una imagen que está totalmente focalizada. La función EFI puede ejecutarse con el eje Z manual o el motorizado y crea un mapa de altura para disfrutar de una visualización clara de la estructura. También es posible construir una imagen EFI, estando fuera de línea, con la función PRECiV Desktop.

Capture áreas claras y oscuras: HDR

Con el procesamiento de imágenes avanzado, el alto rango dinámico (HDR, sigla en inglés) ajusta las diferencias a nivel de la iluminación dentro de una imagen para reducir los destellos (o el deslumbramiento). El HDR mejora la calidad visual de las imágenes digitales; por ende, permite generar informes de nivel profesional.

Clearly exposed for both of dark and bright parts by HDR (Sample: fuel injector bulb)

_{Partes oscuras y claras claramente expuestas por el HDR (muestra: bombilla del inyector de combustible)}

Contrast enhancement by HDR (Sample: Sliced magnesite)

_{ejoramiento del contraste por HDR}
_{(muestra: magnesita cortada)}

Imagen instantánea de una moneda tratada con la función MIA.

_{Imagen instantánea de una moneda tratada con la función MIA.}

Desplazamiento sencillo de platina para panorámicas: MIA instantánea

Ahora le es posible unir imágenes de forma fácil y rápida con tan sólo mover los tornillos axiales X e Y en la platina manual; no se requiere la platina motorizada. El software PRECiV usa un reconocimiento de patrones para generar una imagen panorámica que ofrece a los usuarios un campo visual más amplio que un único fotograma.

Función de medición versátil

Funciones de medición rutinarias o básicas

Hay disponibles varias funciones de medición en el PRECiV para que el usuario pueda obtener datos útiles de las imágenes. Para un control e inspección de calidad, suelen necesitarse características de medición en las imágenes. Todos los niveles de licencias PRECiV incluyen funciones de medición interactivas, como distancias, ángulos, rectángulos, círculos, elipses y polígonos. Todos los resultados medidos se guardan con los archivos de imagen para su posterior documentación.

Recuento y medición

La detección de objetos y la medición de la distribución del tamaño se encuentran entre las aplicaciones más importantes del procesamiento de imágenes digital. El PRECiV incorpora un motor de detección que utiliza métodos de valor umbral para separar con fiabilidad objetos (p. ej., partículas, arañazos, etc.) del fondo.

Soluciones para la ciencia de los materiales

El software PRECiV ofrece una interfaz a carácter intuitivo basada en el flujo de trabajo para un análisis de imágenes complejo. Basta con un clic de botón para ejecutar las tareas analíticas de imágenes más complejas de forma rápida y precisa y en conformidad con las normativas industriales más comunes. Dada la reducción considerable del tiempo de procesamiento para las tareas repetidas, los científicos de materiales pueden centrarse en el análisis y la investigación. Los complementos modulares para los diagramas de inclusiones e intersecciones (tb. interceptos) pueden aplicarse de forma fácil en cualquier momento.

Vista superficial 3D (muestra en ensayo de rugosidad)

_{Vista superficial 3D (muestra en ensayo de rugosidad)}

Vista simple y medida de perfil 3D

_{Vista simple y medida de perfil 3D}

Medición de muestra 3D

Si usa una unidad de enfoque motorizada externa, es posible capturar una imagen EFI y visualizarla en 3D rápidamente. Los datos de altura adquiridos pueden ser usados en las mediciones 3D del perfil o a partir de la imagen de vista simple.

Más información sobre PRECiV

Vea más tipos y tamaños de muestras

La nueva platina de 150 × 100 mm proporciona un desplazamiento más extenso en la dirección X que los modelos anteriores. Esto, sumado al diseño meseta de la superficie, permite colocar muestras de gran tamaño o varias muestras en la platina. La placa de la platina cuenta con roscas para acoplar el portamuestras. La platina de mayor tamaño ofrece flexibilidad a los usuarios al permitirles inspeccionar más muestras en un microscopio, lo que les ahorra un espacio de laboratorio útil. La torsión ajustable de la platina facilita un posicionamiento fino bajo una alta magnificación con un campo visual angosto.

Flexibilidad para la altura y el peso de la muestra

Es posible montar muestras de hasta 105 mm en la platina con una unidad modular opcional. Gracias al mecanismo de enfoque mejorado, el microscopio puede admitir un peso total (muestra + platina) de hasta 6 kg. Esto significa que pueden inspeccionarse muestras más grandes y más pesadas en el BX53M, lo que conllevará a usar menos microscopios en un laboratorio. El posicionamiento estratégico de un soporte giratorio para obleas (plaquetas) electrónicas de 6 pulgadas no centradas permite a los usuarios observar toda la superficie de la oblea con tan sólo rotar el soporte durante el desplazamiento por el rango de recorrido de 100 mm. El ajuste de torsión de la platina está optimizado para facilitar el uso y la cómoda sujeción de la empuñadura para encontrar la región de interés de la muestra.

BX53MRF-S

_BX53MRF-S

BXFM

_BXFM

Flexibilidad para el tamaño de la muestra

Cuando las muestras son demasiado grandes para colocarlas en una platina de un microscopio tradicional, los componentes ópticos principales destinados a la microscopía de luz reflejada pueden adoptar una configuración modular. Este sistema modular, el BXFM, puede montarse en una platina de mayor tamaño a través de una vara o montarse en otro instrumento de elección mediante un soporte de montaje. Esto permite que los usuario saquen el máximo provecho de nuestra reconocida óptica incluso cuando sus muestras son únicas en tamaño y forma.

Proteja sus dispositivos electrónicos de descargas electrostáticas: compatible con el programa de ESD

El BX53M se dota de la capacidad de disipación de ESD que protege a los dispositivos electrónicos de la electricidad estática generada por factores humanos o ambientales.

Calidad de imagen

Nuestra óptica de vanguardia

Combinación de alta apertura numérica y larga distancia de trabajo

Las lentes de objetivo son cruciales para el buen rendimiento de un microscopio.
Los objetivos MXPLFLN añaden profundidad a la serie MPLFLN, ya que llevan a efecto un procesamiento de imágenes de iluminación episcópica mediante la maximización simultánea de la apertura numérica y la distancia de trabajo. Las resoluciones más altas, por lo general con magnificaciones de 20X y 50X, significan distancias de trabajo más cortas, lo que conlleva a que una muestra o un objetivo se retraiga durante el intercambio de objetivos. En muchos casos, la distancia de trabajo de 3 mm de la serie MXPLFLN elimina este problema, lo que permite inspecciones más rápidas con menos riesgo de contacto entre objetivo y muestra.

Conozca más sobre los objetivos MXPLFLN

table

Conventional 50X objective: NA 0.8, WD 1 mm / MXPLFLN50X: NA 0.8, WD 3mm

Rendimiento óptico superior:Control de aberración de frente de onda

El rendimiento óptico de las lentes de objetivo afecta directamente la calidad de las imágenes de observación y los resultados de los análisis. Nuestros objetivos de alta magnificación UIS2 están desarrollados para minimizar las aberraciones del frente de onda, lo que brinda un rendimiento óptico fiable.

Obtenga información acerca de las lentes de objetivo UIS2

_{Frente de onda incorrecto}

_{Frente de onda correcto (objetivo UIS2)}

Temperatura de color uniforme:Iluminación con LED blanco de alta intensidad

El BX53M utiliza fuentes de luz de LED blanco de alta intensidad tanto para luz reflejada como luz transmitida. El LED mantiene una temperatura de color uniforme independientemente de la intensidad. Los LED proporcionan una iluminación eficiente y de larga autonomía para las aplicaciones de ciencia de los materiales.

LED: Color is consistent with light intensity and clearer than halogen.

_{Luz halógena: El color varía con la intensidad de la luz.}

Halogen: Color varies with light intensity.

_{LED: El color es homogéneo en función de la intensidad de luz y más claro que con la luz halógena.}
^{* Todas las imágenes capturadas con la exposición automática}

Calidad superior para un rendimiento avanzado

Facilita una medición precisa:Calibración automática

Al igual que los microscopios digitales, la calibración automática está disponible cuando se usa el software PRECiV. La calibración automática elimina la variabilidad entre usuarios en el proceso de calibración, lo que se traduce en mediciones más fiables. Esta usa un algoritmo que calcula automáticamente la calibración correcta a partir de un promedio de múltiples puntos de medición. De esta forma, se minimiza la variación humana y mantiene una precisión uniforme para mejorar la fiabilidad de la verificación regular.

Medición precisa y fácil: Calibración automática

Oblea semiconductora (imagen binarizada): La corrección de sombreado produce una iluminación homogénea a lo largo del campo visual.

_{Oblea semiconductora (imagen binarizada):}
^{La corrección de sombreado produce una iluminación homogénea a lo largo del campo visual.}

Aplicación mosaico sin problemas:Corrección de sombreado de la imagen

El software PRECiV presenta una corrección de sombreado que permite adaptar este último alrededor de los ángulos (esquinas) de una imagen. A usarlo con los parámetros de umbral de intensidad, la corrección de sombreado proporciona análisis más precisos.

Aplicaciones

Patrón de circuito integrado en una pastilla de semiconductor

El campo oscuro se utiliza para detectar rasguños o defectos minúsculos en una muestra o para inspeccionar muestras con superficies con efecto espejo, como las pastillas.

La iluminación MIX permite a los usuarios visualizar tanto los patrones como los colores.

_{MIX (campo claro + campo oscuro)}

_{Campo oscuro}

Inserting image...

_{Fluorescencia}

_{MIX (fluorescencia + campo oscuro)}

Residuo fotorresistente en una pastilla de semiconductor

La fluorescencia se usa en el caso de muestras que emiten luz cuando son iluminadas con un cubo de filtros especialmente desarrollado, lo que permite detectar la contaminación y los residuos fotorresistentes.

La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto de residuos fotorresistentes como de patrones de circuito integrado.

Luz transmitida

_{Luz transmitida}

MIX (luz transmitida + campo claro)

_{MIX (luz transmitida + campo claro)}

Filtro de color LCD

Esta técnica de observación es adecuada para muestras transparentes, tales como materiales de LCD, plástico y vidrio.

La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto del color de filtro como el patrón de circuito.

Campo claro

_{Campo claro}

Contraste de interferencia diferencial (DIC)

_{Contraste de interferencia diferencial (DIC)}

Hierro fundido con grafito esferoidal

El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

Campo claro

_{Campo claro}

Luz polarizada

_{Luz polarizada}

Sericita

El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra, normalmente no detectable en el campo claro, se visualiza como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

_{Luz infrarroja (IR)}

Adherencia de pastillas en un patrón de circuito impreso

La luz infrarroja se usa para observar defectos internos en los chips de circuitos integrados y otros dispositivos fabricados con silicio sobre vidrio.

Especificaciones

ESPECIFICACIONES DE CONFIGURACIÓN SUGERIDA DEL BX53M PARA USO GENERAL
			Entry (básico)		Standard (estándar)		Advanced (avanzado)
Sistema óptico			Sistema óptico UIS2 (con corrección al infinito)
Unidad principal	Estativo del microscopio		BX53MRF-S (reflejada)	BX53MTRF-S (reflejada/transmitida)	BX53MRF-S (reflejada)	BX53MTRF-S (reflejada/transmitida)	BX53MRF-S (reflejada)	BX53MTRF-S (reflejada/transmitida)
	Enfoque		Recorrido: 25 mm Recorrido fino por rotación: 100 μm Graduación mínima: 1 μm Con tope de límite superior, ajuste de torsión para el mando de enfoque grueso
	Altura máx. de la muestra		Reflejada: 65 mm (sin separador), 105 mm (con BX3M-ARMAD) Reflejada/transmitida: 35 mm (sin separador), 75 mm (con BX3M-ARMAD)
	Tubo de observación	Campo amplio (F.N.22)	U-TR30-2-2 Invertido: trinocular
	Iluminación	Luz reflejada Luz transmitida	BX3M-KMA-S LED blanco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (con mecanismo de centrado), enclavamiento BF/DF		BX3M-RLAS-S Codificado, LED blanco, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (con mecanismo de centrado), enclavamiento BF/DF
			－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo	－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo	－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo
	Portaobjetivos giratorio		U-5RE-2 Para BF: quíntuple		U-D6BDRE Para BF/DF: séxtuple			U-D6BDRES-S Para BF/DF: séxtuple, codificado
	Ocular（FN22)		WHN10 WHN10X-H
	Observación MIX		－					BX3M-CB Caja de control BX3M-HS Conmutador manual U-MIXR-2 Deslizador MIX para la observación con luz reflejada U-MIXRCBL Cable para MIXR
	Condensador (distancia de trabajo larga)		－	U-LWCD	－	U-LWCD	－	U-LWCD
	Cable de alimentación		UYCP (x1)					UYCP (x2)
	Peso		Con luz reflejada: aprox. 15,8 kg (estativo del microscopio 7,4 kg) Con luz reflejada/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativo del microscopio 7,6 kg)
Objetivos	Conjunto MPLFLN		MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observación BF/POL/FL		－
	Conjunto MPLFLN BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL
	Conjuntos MPLFLN-BD y LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL
	Juegos MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL
Platina (X x Y)	Conjunto de 76 mm x 52 mm		U-SVRM, U-MSSP Platina con mango derecho coaxial / 76 (X) × 52 (Y) mm, con ajuste de torsión
	Conjunto de 100 mm x 100 mm		U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 100 mm x 100 (G) mm		U-SIC4R2, U-MSSPG Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
	Conjunto de 150 mm x 100 mm		U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 150 mm x 100 (G) mm		U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
Opción	Conjunto de observación MIX*		BX3M-CB, BX2M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL				－
	DIC*		U-DICR
	Tubos intermedios		U-DICR
	Filtros		U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U--550IF550, U-42L42, U-25, U-25FR
	Filtro para condensador		43IF550-W45, U-POT
	Placa de la platina		U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Soporte de muestras		U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Mango de caucho		U-SHG, U-SHGT

_{*No puede utilizarse con U-5RE-2.}

UNIDADES BX53M / BXFM ESD
Elementos	Estativo del microscopio	BX53MRF-S, BX53MTRF-S
	Iluminador	BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S
	Portaobjetivos	U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U--D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD
	Platina	U-SIC4R2, U-MSSP4

ESPECIFICACIONES DE CONFIGURACIÓN SUGERIDA DEL BX53M PARA USO ESPECÍFICO
				Fluorescencia		Luz infrarroja	Polarizada
Sistema óptico				Sistema óptico UIS2 (con corrección infinita)
Unidad principal	Estativo del microscopio			BX53MRF-S (reflejada)	BX53MTRF-S (reflejada/transmitida)	BX53MRF-S (reflejada)	BX53MTRF-S (reflejada/transmitida)
	Enfoque			Desplazamiento/carrera: 25 mm Desplazamiento (carrera) micrométrico por rotación: 100 μm Graduación mínima: 1 μm Con tope de límite superior, ajuste de torsión para el mando de enfoque grueso
	Altura máx. de la muestra			Con luz reflejada: 65 mm (sin separador), 105 mm (con BX3M-ARMAD) Con luz reflejada/transmitida: 35 mm (sin separador), 75 mm (con BX3M-ARMAD)
	Tubo de observación	Campo amplio (FN22)		U-TR30-2 Invertido: trinocular		U-TR30IR Invertido: trinocular para IR	U-TR30-2 Invertido: trinocular
		Accesorio intermedio para luz polarizada (U-CPA)	Lentes Bertrand	－		－	Enfocable
			Tope de campo visual Bertrand	－		－	Diámetro ø de 3,4 mm (fijo)
			Enganche o desenganche el cambiador de la lente Bertrand entre la observación ortoscópica y conoscópica	－		－	Posición del deslizador ● introducido Posición del deslizador ○ extraído
			Ranura del analizador	－		－	Analizador giratorio con ranura (U-AN360P-2)
	Iluminación	Luz reflejada	Observación FL	BX3M-URAS-S Luz reflejada universal codificada, torreta de cubo de espejos de cuatro posiciones, (estándar: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF, etc.); con tope de campo, tope de apertura (dotado de mecanismo de centrado), con mecanismo de obturador		－	－
			Observación IR	－		BX3M-RLA-S Lámpara halógena de 100 W para IR, BF/IR, AS (con mecanismo de centrado) U-LH100IR (incluido HAL-L de 12 V 10 W) Fuente de luz halógena para IR de 100 W TH4-100 Fuente de alimentación de 100 W TH4-HS Conmutador manual U-RMT Cable de extensión	－
		Luz transmitida	Observación POL	－		－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo
	Portaobjetivos giratorio			U-D6BDRES-S Para BF/DF: séxtuple, codificado		U-5RE-2 Para BF: quíntuple	U-P4RE Cuádruple, componentes extraíbles con capacidad de centrado Platina de retardo de 1/4 de longitud de onda (U-TAD), placa matizada (U-TP530) y pueden acoplarse varios compensadores a través del adaptador de placa (U-TAD)
	Ocular（FN22)			WHN10X
				WHN10X-H			CROSS-WHN10X
	Unidades de espejo			U-FDF Para DF U-FBFL Para BF, filtro de densidad neutra (D. N.) integrado U-FBF Para BF, filtro de D. N. desmontable U-FWUS Para fluorescencia (FL) ultravioleta U-FWBS Para FL azul U-FWGS Para FL verde		－
	Filtro / polarizador / analizador			U-25FR Filtro de difusión baja/media (frost)		U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtros de trayectoria de banda para IR	43IF550-W45 Filtro verde
				U-POIR Control deslizante del polarizador de dirección reflejada para IR		U-AN360IR Control deslizante del analizador giratorio para IR	U-AN360P-2 Rotación esférica de 360° Ángulo mínimo de rotación 0,1°
	Condensador			U-LWCD Larga distancia de trabajo		－	U-POC-2 Condensador acromático sin tensión. Polarizador giratorio de 360° con lente superior acromática rebatible. El tope de enganche en la posición «0°» es ajustable. A. N. de 0,9 (lente superior interna)/A. N. de 0,18 (lente superior externa) Diafragma de apertura de iris: ajustable de 2 mm a 21 mm de diámetro
	Deslizador/compensadores			－			U-TAD Deslizador (adaptador de placa)
							U-TP530 Placa matizada U-TP137 Placa de retardo de longitud de onda 1/4
	Cable de alimentación			UYCP (x1)		UYCP (x2)	UYCP (x1)
	Peso			Con luz reflejada: aprox. 15,8 kg (estativo del microscopio 7,4 kg)	Con luz reflejada/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativo del microscopio 7,6 kg)	Aprox. 18,9 kg (estativo del microscopio 7,4 kg)	Aprox. 16,2 kg (estativo del microscopio 7,6 kg)
Fuente de luz FL reflejada	Guía de luz			Conjunto de guía de luz U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150		－	－
	Lámpara de mercurio			Conjunto de lámpara de mercurio U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV		－	－
Objetivos	Conjunto MPLFLN			MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observación BF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto MPLFLN BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjuntos MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjuntos MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto IR			－		LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR Observación IR	－
	Conjunto POL			－		－	UPLFLN4XP,10XP,20XP,40XP Observación POL
Platina (X × Y)	Conjunto de 76 mm x 52 mm			U-SVRM, U-MSSP Platina con empuñadura coaxial derecha / 76 (X) × 52 (Y) mm, con ajuste de torsión
	Conjunto de 100 mm x 100 mm			U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 100 mm x 100 (G) mm			U-SIC4R2, U-MSSPG Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
	Conjunto de 150 mm x 100 mm			U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión y mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 150 mm x 100 (G) mm			U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión y mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
	Conjunto POL			－			U-SRP+U-FMP Platina giratoria polarizadora + platina mecánica
Opción	Conjunto de observación MIX*			BX3M-CB, BX2M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL
	DIC*			U-DICR
	Tubos intermedios			U-DICR
	Filtros			U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtro para condensador			43IF550-W45, U-POT
	Placa de la platina			U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Portamuestras			U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Mango de caucho			U-SHG, U-SHGT