Notes d’application

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Caractérisation de la forme d’un marquage estampé sur une surface en métal / Mesure de la forme en 3D avec un microscope laser

Application

Le marquage est une technique appliquée sur les produits ou les pièces à des fins d’identification ou de traçabilité. Plusieurs méthodes de marquage sont utilisées, comme le jet d’encre, le laser et l’estampage. L’estampage de métal est une méthode standard dans de nombreuses industries et implique d’utiliser un matériau très dur pour estamper une forme sur une pièce métallique. Contrairement à la gravure, l’estampage laisse un marquage semi-permanent sans produire d’éclats dans le métal. La taille et la position de chaque marque affectent sa visibilité tandis que la profondeur d’estampage affecte sa durabilité. Ces marques doivent être évaluées pour s’assurer qu’elles sont au bon endroit et estampées à la bonne profondeur.

Solution proposée par Olympus

Le microscope à balayage laser 3D LEXT d’Olympus utilise un laser à semi-conducteur de 405 nm pour une haute résolution horizontale, ce qui permet de mesurer avec précision la largeur d’une marque estampée. Le système optique confocal du microscope fournit des données en trois dimensions précises sur les irrégularités de l’ordre du micromètre sur une surface. Avec le microscope LEXT, il est possible de reproduire avec précision des images 3D et d’effectuer des mesures d’une grande fiabilité selon l’axe z. La fonction d’assemblage combine sans aucune perte plusieurs images nettes pour créer une image panoramique unique, ce qui simplifie l’obtention d’une vue complète d’un marquage.

Marquage par estampage d’une plaque métallique

Lentille d’objectif 5x, assemblage 5x5

Lentille d’objectif 5x, assemblage 5x5

Lentille d’objectif 20x

Lentille d’objectif 20x

Lentille d’objectif 100x, zoom 1x

Lentille d’objectif 100x, zoom 1x

Lentille d’objectif 100x, zoom 1x

Lentille d’objectif 100x, zoom 1x

Productos para la aplicación

LEXT OLS5500

Perfilómetro óptico 3D híbrido

  • Mediciones de superficie trazables de nanómetros a micrómetros
  • Microscopía de escaneo láser (LSM), interferometría de luz blanca (WLI) y microscopía de variación de enfoque (FVM) en una sola plataforma premiada
  • Primer perfilómetro óptico 3D que ofrece precisión y repetibilidad* garantizadas para mediciones LSM y WLI.
  • El modo WLI ofrece una capacidad de procesamiento de mediciones hasta 40 veces superior a la de la LSM convencional.
  • Precisión excepcional en todas las superficies gracias a óptica de ingeniería propia
  • Interfaz intuitiva y automatización inteligente que agilizan la operación para usuarios de todos los niveles
  • Flujos de trabajo de alta capacidad de procesamiento optimizados con IA mediante la integración con el software PRECiV™

* Basado en la investigación interna de Evident a octubre de 2025. La exactitud y repetibilidad garantizadas solo se aplican si el dispositivo se ha calibrado según las especificaciones del fabricante y se encuentra libre de defectos. La calibración la debe llevar a cabo un técnico de Evident o un especialista autorizado por Evident.

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LEXT OLS5100

El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.

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