Notes d’application
Profil de surface de la plaque guide de lumière pour les écrans LCD / Mesure de la forme 3D sans contact à l’aide d’un microscope laser
Application
Des films à usage spécial sont laminés ensemble dans un système optique pour permettre aux écrans à cristaux liquides (LCD) de conserver une luminosité uniforme. Les petits écrans utilisent une plaque guide lumière pour diriger la lumière à travers le panneau. La lumière provenant d’une source, telle que des DEL, installée le long du bord d’un panneau d’écran est diffusée par la plaque et réfléchie plusieurs fois pour éclairer l’avant du panneau. La densité des irrégularités de surface sur la plaque guide lumière est conçue de manière à ce que la diffusion augmente à mesure que la lumière s’éloigne de la source. La lumière qui irradie de la plaque est rendue uniforme par une plaque de diffuseur. La lumière est ensuite collectée par la feuille de prismes, intensifiée et dirigée à travers le panneau TFT. L’évaluation du profil de la surface, ou de la rugosité, de la plaque guide lumière est importante pour assurer une luminosité uniforme dans les écrans LCD.
La solution d’Olympus
En utilisant le microscope à balayage laser 3D LEXT d’Olympus, l’angle de biseau et le pas ou la hauteur crête à vallée de la plaque guide lumière peuvent être mesurés en haute résolution et en haute définition. Grâce aux lentilles d’objectif dédiées avec ouvertures numériques élevées et au système optique avancé conçu pour un rendement optimal avec un laser de 405 nm, le microscope LEXT peut capturer le profil des pentes irrégulières qui étaient auparavant impossibles à détecter, ce qui vous permet d’acquérir des données en trois dimensions plus fiables et d’assurer la qualité des plaques guide lumière.
Profil en trois dimensions de la surface d’une plaque guide lumière
Lentille d’objectif 100x ; zoom 1x
Productos para la aplicación
LEXT OLS5500
Perfilómetro óptico 3D híbrido
- Mediciones de superficie trazables de nanómetros a micrómetros
- Microscopía de escaneo láser (LSM), interferometría de luz blanca (WLI) y microscopía de variación de enfoque (FVM) en una sola plataforma premiada
- Primer perfilómetro óptico 3D que ofrece precisión y repetibilidad* garantizadas para mediciones LSM y WLI.
- El modo WLI ofrece una capacidad de procesamiento de mediciones hasta 40 veces superior a la de la LSM convencional.
- Precisión excepcional en todas las superficies gracias a óptica de ingeniería propia
- Interfaz intuitiva y automatización inteligente que agilizan la operación para usuarios de todos los niveles
- Flujos de trabajo de alta capacidad de procesamiento optimizados con IA mediante la integración con el software PRECiV™
* Basado en la investigación interna de Evident a octubre de 2025. La exactitud y repetibilidad garantizadas solo se aplican si el dispositivo se ha calibrado según las especificaciones del fabricante y se encuentra libre de defectos. La calibración la debe llevar a cabo un técnico de Evident o un especialista autorizado por Evident.
LEXT OLS5100
El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.