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Évaluation de la rugosité de la surface des cartes mémoire

Mesures de l’ordre du micron effectuées au moyen d’un microscope laser

Carte mémoire
Carte mémoire

(1) Application

Les cartes mémoire ont des tailles variables et sont largement utilisées comme supports de stockage dans les appareils photo numériques, les téléphones portables, les enregistreurs, etc. On les insère dans les fentes prévues à cet effet, et la rugosité de leur surface a une incidence sur leur facilité d’insertion. Puisque la rugosité de la surface des cartes mémoire contribue à leur valeur commerciale, il s’agit d’un critère de mesure important dans le contrôle de la qualité. Les testeurs de rugosité classiques utilisés pour effectuer le contrôle de la qualité peuvent présenter des limites en matière de mesure, car ils doivent être en contact avec la surface à tester et ne mesurent généralement que la hauteur (rugosité) le long d’une seule ligne de mouvement.

(2) Solution

Le microscope à balayage laser 3D LEXT OLS5000 d’Olympus permet de mesurer les profils 3D avec une haute résolution et une haute précision, et ce, sans qu’il y ait de contact avec la surface examinée. Il permet aux utilisateurs d’obtenir des images claires à haute résolution au moyen d’un système optique confocal. Ce système utilise des paramètres de rugosité tridimensionnels qui sont conformes à la norme ISO 25178, permettant ainsi une évaluation sans contact. Grâce aux évaluations de surfaces larges qu’il offre, ce système fournit plus de renseignements de mesure que les testeurs de rugosité classiques, lesquels effectuent les mesures le long d’une seule ligne. De plus, il convient mieux pour les irrégularités apparemment aléatoires. Le microscope OLS5000 offre la fonction standard de platine automatique, qui facilite l’acquisition de données pour plusieurs points sur la surface en enregistrant les coordonnées des mesures et en utilisant la fonction d’assemblage d’images.

Images

(1) Échantillon A (objectif : x20; champ de vision réel : 640 µm)

Point de mesure 1
Point de mesure 2
Point de mesure 3
Paramètre
Rq [µm]
Ra [µm]
Rz [µm]
Rku [µm]
Point 1
3,5
2,897
26,501
2,518
Point 2
3,766
3,033
30,446
2,966
Point 3
3,626
2,955
25,5
2,741
Moyenne
3,631
2,962
27,482
2,742
Écart-type
0,133
0,068
2,615
0,224

(2) Échantillon B (objectif : x20; champ de vision réel : 640 µm)

Point de mesure 1
Point de mesure 2
Point de mesure 3
Paramètre
Rq [µm]
Ra [µm]
Rz [µm]
Rku [µm]
Point 1
1,608
1,259
17,946
3,833
Point 2
1,579
1,241
18,158
3,86
Point 3
1,646
1,296
22,166
3,936
Moyenne
1,611
1,265
19,423
3,876
Écart-type
0,034
0,028
2,378
0,053

Produits associés

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