Notes d’application
Utilisation du microscope confocal à balayage laser OLS5000 d’Olympus pour mesurer la rugosité de surface de la partie métallique des implants dentaires
Contexte
La rugosité de surface de la racine des implants dentaires joue un rôle important, étant donné que la rugosité augmente la surface utile de la racine et, donc, la stabilité de l’implant. La préparation des parties métalliques des implants dentaires implique souvent de nombreuses étapes de traitement pour augmenter la rugosité : décapage au jet abrasif, décapage à l’acide, oxydation anodique et polissage. La rugosité de surface optimale pour les implants dentaires se situe entre 1 et 10 µm. Au Japon, les fabricants d’implants dentaires doivent vérifier les mesures de rugosité de surface à l’aide d’un microscope confocal laser. Une rugosité inappropriée peut entraîner une mauvaise adhérence de l’implant dans la cavité buccale du patient.
Solution proposée par Olympus
Le microscope confocal laser LEXT d’Olympus permet de mesurer la rugosité des surfaces des implants dentaires avec une précision et une justesse exceptionnelles. La haute résolution du microscope LEXT et sa capacité à mesurer les angles abrupts signifient que des formes de géométrie très variée sont mesurées avec précision et justesse (figure 1). Le microscope possède des objectifs à grande distance de travail afin de pouvoir inspecter des objets plus grands, comme les implants dentaires.
Caractéristiques du microscope
Le microscope LEXT d’Olympus vous permet de réaliser des observations en 3D avec des mesures en ultra-haute résolution et une densité de pixels élevée. Les différents objectifs vous donnent la flexibilité d’avoir une distance de travail compatible avec des objets plus grands, comme les implants dentaires. Le microscope LEXT se démarque par une sensibilité élevée aux inclinaisons, laquelle permet de mesurer avec précision des irrégularités complexes et très inclinées.
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Productos para la aplicación
LEXT OLS5500
Perfilómetro óptico 3D híbrido
- Mediciones de superficie trazables de nanómetros a micrómetros
- Microscopía de escaneo láser (LSM), interferometría de luz blanca (WLI) y microscopía de variación de enfoque (FVM) en una sola plataforma premiada
- Primer perfilómetro óptico 3D que ofrece precisión y repetibilidad* garantizadas para mediciones LSM y WLI.
- El modo WLI ofrece una capacidad de procesamiento de mediciones hasta 40 veces superior a la de la LSM convencional.
- Precisión excepcional en todas las superficies gracias a óptica de ingeniería propia
- Interfaz intuitiva y automatización inteligente que agilizan la operación para usuarios de todos los niveles
- Flujos de trabajo de alta capacidad de procesamiento optimizados con IA mediante la integración con el software PRECiV™
* Basado en la investigación interna de Evident a octubre de 2025. La exactitud y repetibilidad garantizadas solo se aplican si el dispositivo se ha calibrado según las especificaciones del fabricante y se encuentra libre de defectos. La calibración la debe llevar a cabo un técnico de Evident o un especialista autorizado por Evident.
LEXT OLS5100
El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.