Notes d’application
Mesure de la rugosité de surface de substrats d’impression souples à l’aide du microscope confocal laser Olympus OLS4100
Contexte
Les éléments électroniques devenant de plus en plus petits et de plus en plus complexes, la demande en circuits imprimés souples et miniaturisés ne cesse de croître. Pour fabriquer un circuit imprimé souple, on assemble une ou plusieurs couches de feuille de cuivre sur un substrat de résine diélectrique. Les couches de cuivre sont ensuite gravées pour créer l’ensemble de pistes souhaité. Avant d’être appliquée au substrat, la surface de cuivre est traitée afin d’augmenter sa rugosité et de favoriser l’adhésion. Si la surface de cuivre n’est pas assez rugueuse, son adhésion à la résine sera insuffisante pour résister au processus de fabrication. Si tel est le cas, cela provoque des défauts et la défaillance des appareils électroniques. De ce fait, il est important de mesurer préciser la rugosité des feuilles de cuivre.
Solution proposée par Olympus
Le microscope de mesure laser 3D Olympus LEXT permet de mesurer la rugosité de surface avec une résolution dans le plan de 0,12 µm et une résolution des irrégularités de 5 nm. Le microscope dispose d’une densité de pixels ultra-élevée, afin de pouvoir mesurer même les irrégularités subtiles en surface. Grâce aux mesures de rugosité sans contact du LEXT, la fine couche de cuivre n’est pas endommagée.
Caractéristiques du produit
Le microscope Olympus LEXT permet des observations 3D avec une ultra-haute résolution et une très grande densité de pixels. Le microscope présente une forte sensibilité à l’inclinaison, ce qui permet des mesures précises de structures géométriques complexes comportant des surfaces fortement inclinées. La fonction de mesure de la rugosité sans contact garantit que les surfaces en cuivre fragiles ne sont pas endommagées lors de la mesure.
Image
Figure 1 : Image en haute résolution et un modèle 3D d’une surface en cuivre
Productos para la aplicación
LEXT OLS5500
Perfilómetro óptico 3D híbrido
- Mediciones de superficie trazables de nanómetros a micrómetros
- Microscopía de escaneo láser (LSM), interferometría de luz blanca (WLI) y microscopía de variación de enfoque (FVM) en una sola plataforma premiada
- Primer perfilómetro óptico 3D que ofrece precisión y repetibilidad* garantizadas para mediciones LSM y WLI.
- El modo WLI ofrece una capacidad de procesamiento de mediciones hasta 40 veces superior a la de la LSM convencional.
- Precisión excepcional en todas las superficies gracias a óptica de ingeniería propia
- Interfaz intuitiva y automatización inteligente que agilizan la operación para usuarios de todos los niveles
- Flujos de trabajo de alta capacidad de procesamiento optimizados con IA mediante la integración con el software PRECiV™
* Basado en la investigación interna de Evident a octubre de 2025. La exactitud y repetibilidad garantizadas solo se aplican si el dispositivo se ha calibrado según las especificaciones del fabricante y se encuentra libre de defectos. La calibración la debe llevar a cabo un técnico de Evident o un especialista autorizado por Evident.
LEXT OLS5100
El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.