Soluzioni di microscopie perla produzione di componenti in materiali semiconduttori

Progettazione di IC

Le aziende di progettazione di Circuiti integrati (IC - integrated circuit) devono ispezionare i chip IC progettati. Inoltre i produttori di chip IC devono analizzare la progettazione dei chip nella fase produttiva di prova.
I produttori possono usare strumenti manuali assicurando un'elevata precisione.

Osservazione della superficie dei chip IC

Le aziende di progettazione di Circuiti integrati (IC - integrated circuit) devono ispezionare il pattern dei chip IC. Inoltre i produttori di chip IC devono analizzare la progettazione dei chip nella fase produttiva di prova. Visto che รจ basso il volume da ispezionare, i produttori possono usare strumenti manuali assicurando un'elevata precisione.

La nostra soluzione

I nostri microscopi industriali della serie BX/MX offrono un ingrandimento massimo di 1 000X per l'osservazione di pattern IC con linee a un livello micrometrico o submicrometrico. Altrimenti i nostri microscopi della serie DSX offrono un ingrandimento massimo di 7 000X e sono di facile funzionamento.

Microscopio della serie MX per applicazioni con semiconduttori

Microscopio della serie MX per applicazioni con semiconduttori

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Microscopio della serie MX per applicazioni metallurgiche

Microscopio della serie MX per applicazioni metallurgiche

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Microscopio digitale della serie DSX

Microscopio digitale della serie DSX

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Note applicative

Nota applicativa sul rilevamento di difetti di produzione

Individuare i difetti di produzione sui wafer semiconduttori utilizzando un microscopio digitale

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Misura di spessore della pellicola fotoresist

Misura di spessore della pellicola fotoresist

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Ispezione di fili saldati mediante un microscopio digitale

Ispezione di fili saldati mediante un microscopio digitale

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