MX63-MX63L Wafer Inspection Microscope

MX63およびMX63Lは、最大300mmサイズのウェハや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。FPD、回路基板、その他の大型サンプルに対応するモジュール式設計により、用途に合わせて必要なコンポーネントを選択できます。