信頼のモジュール式システムを、かつてないシンプルさでご提案

お使いのサンプルや必要なアプリケーションに応じ、６つのパッケージをご用意しています。

• 汎用パッケージ：エントリー・スタンダード・アドバンス
• 専用パッケージ：蛍光観察・IR観察・偏光観察
• サンプルやアプリケーションに応じたカスタマイズ
• モジュール設計により用途に合わせてシステムを構築

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多様性

従来の観察方法では見つけにくかった欠陥も、高度な光学・イメージング技術で検出できます。
BXシリーズは、明視野・暗視野・簡易偏光・微分干渉など、これまで工業用顕微鏡で用いられていた観察法をすべて備えています。さらに、新開発の照明手法やPRECiV画像解析ソフトウェアを使用することで、従来は不可能とされていた検査・評価を可能にします。また、BX53Mは従来よりも大きく、重たいサンプルにも対応でき、汎用性が高まります。

• MIX観察：見えなかったものが見える
• 手動フォーカスハンドルで簡単に深度合成
• 手動ステージで簡単にパノラマ撮影
• 明部も暗部も同時に見やすく
• 簡易計測から高度な画像解析まで
• さまざまなサンプルに対応

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BX53M IR観察（落射）

赤外（IR）光によって、可視光を通さない実装されたICチップなどの内部観察ができます。また、可視域から近赤外域まで収差補正した5～100Xの対物レンズを、ラインアップとして揃えています。特に20X以上の対物レンズでは、観察対象物を覆うシリコン層によって生じる収差を補正環によって補正し、クリアな像を得ることができます。

IR用対物レンズについてさらに詳しく

鮮明なオルソスコープ像・コノスコープ像

コノスコープ観察ユニットU-CPAの使用により、簡単な操作でオルソスコープ、コノスコープの切り換えや、コノスコープ像のフォーカシングが可能です。また、ベルトラン絞りの採用により、試料の微小範囲でもシャープなコノスコープ像が観察できます。

コンペンセーターと波長板の豊富なラインアップ

鋭敏色板・1/4波長板および5種類のコンペンセーターをラインアップし、極微小量から最大20λまでの幅広い範囲でのレタデーション量の測定に対応します。

歪みの少ない光学系

設計・製造技術により、対物レンズやコンデンサーの光学歪を極限まで除去しました。これにより偏光性能を向上させ、コントラストの良い偏光観察を実現しました。

対物レンズUPLFLN-Pについてさらに詳しく

対物レンズPLN-P/ACHN-Pについてさらに詳しく

BXFMシステム

落射投光管と焦準機構を一体化したコンパクトな構成です。お客さまの装置に組み込んだり、ステージに載らないサンプルも観察できます。BX53Mのすべての落射観察およびLED照明が選択できます。

ガイダンスで適切な画像を取得：指標付き絞り

これまで適切な設定が分かりにくかった絞り位置を、表示に合わせるだけで適切に指定できます。開口絞りおよび視野絞りを適切に設定すると、光学性能をフルに活用した高コントラストの画像が得られます。

安定した照明：ライトマネージャー

倍率や観察方法の切り替え時に、あらかじめ設定した適切な光量へと自動的に切り替える機能です。コード（センサー）付き投光管やレボルバーなどと組み合わせることにより、最大35種類の明るさを登録できます。

基本的な計測

品質管理と検査には、画像の計測機能が欠かせません。PRECiVは、すべてのメインライセンスで、距離、角度、矩形、円、楕円、多角形などの基本的な計測機能をシンプルなマウス操作で実施できます。すべての計測結果は画像ファイルとともに保存され、Excelに出力したり、あとでレポート作成に利用できます。

カウントと計測（粒子解析）

工業検査では多数の対象物を計測し、サイズ別に計測結果を分類する定量分析が頻繁に必要となります。PRECiVの「カウントと計測」を使うと、強力な粒子検出力を駆使して多数の粒子の一括計測が可能です。同時に、見やすく色分けされた棒グラフなども作成できます。

マテリアルソリューション

PRECiVのマテリアルソリューションは、画像解析のために、直感的でワークフロー重視のインターフェースを備えています。どの機能をどの順番で使うかを覚えいなくても、ガイダンスに従って進んでいくだけで、特定の検査目的に必要な解析結果を簡単に得ることができます。
結晶粒度の算出や黒鉛球状化率などの目的に応じて、各種工業規格に対応しています。

_{粒度解析（計数法）による二相面積率の算出}