_{Mikroskoplösungen für den Fertigungsprozess von Leiterplatten}

Herstellung des Substrats

Es wird ein Substrat aus Glasfasern und Epoxidharz hergestellt und dann mit Kupferfolie überzogen. Die Oberflächenrauheit der Kupferfolie muss sorgfältig geprüft werden, da sie die Qualität der Leiterplatte beeinflusst.

Analyse der Oberfläche des Kupfersubstrats

Kleinste Fehler auf der Oberfläche beeinträchtigen die Qualität des Substrats. Prüfer müssen die Größe von winzigen Defekten (Mikroebene) auf dem Kupfersubstrat erkennen und messen.

Unsere Lösung

Unser DSX1000 Digitalmikroskop kann 3D-Bilder liefern, die eine Analyse des Oberflächenzustands des Substrats erleichtern. Das Mikroskop kann zudem die Breite und Tiefe von winzigen Defekten messen.

Analyse der Oberfläche des Kupfersubstrats

Eine raue Kupfersubstratoberfläche verschlechtert die Qualität der Laminierung, daher ist die Messung der Oberflächenrauheit auf dem Kupfersubstrat entscheidend für die Qualität der Leiterplatten. Ein Rauheitsmessgerät mit Taster kann nicht verwendet werden, da dieser Defekte auf dem Kupfersubstrat erzeugen würde.

Unsere Lösung

Unsere Laser-Scanning-Mikroskope der OLS-Serie ermöglichen die berührungslose Rauheitsmessung einer Kupfersubstratoberfläche. Das Gerät führt Messungen ohne Beschädigung der Oberfläche durch und kann aufgrund der hohen lateralen Auflösung Daten einer rauen Oberfläche genauer erfassen als ein Weißlichtinterferometer.