Soluciones microscópicas:

Fabricación de tarjetas/placas de circuito impreso (PCB)

Procesamiento de la capa externa

Los circuitos son formados a ambos lados de un sustrato multicapa mediante el mismo proceso que el de la capa interna.

Control del espesor de revestimientos

Los inspectores deben verificar el espesor del enchapado de cobre en una PCB para asegurar la uniformidad del enchapado a través de la placa.

Solución Olympus

Los microscopios digitales de la serie DSX o los microscopios metalúrgicos de la serie BX, junto con el software Stream™ de Olympus, permiten que el operador mida la distribución del espesor en el enchapado de cobre, aplicado a los orificios pasantes o microvías, mediante un simple proceso de inspección.

Microscopio metalúrgico de la serie BX junto con el software Stream de Olympus.

Microscopio metalúrgico de la serie BX junto con el software Stream de Olympus.

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Microscopio digital de la serie DSX con el software Stream de Oympus.

Microscopio digital de la serie DSX con el software Stream de Oympus.

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Sección transversal de orificio pasante

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Notas de aplicación

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Microscopio metalúrgico de la serie BX con método IR
Microscopio digital de la serie DSX

Medir las dimensiones de los orificios vía

Las muescas u orificios vía son usados para la conducción electrónica entre las capas de los patrones de sustratos. Por ende, tanto su ancho como profundidad deben ser medidos.

Solución Olympus

Los microscopios de la serie STM de Olympus permiten medir estas dimensiones en las muescas (u orificios) vía.

Microscopio de medición de la serie STM

Microscopio de medición de la serie STM

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Microscopio digital de la serie DSX con el software Stream de Oympus.

Ubicación que debe medirse con el microscopio de la serie STM

Notas de aplicación

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Control de los patrones de cobre en busca de defectos

Los inspectores deben verificar la presencia de defectos en los patrones de cobre para asegurar la distribución segura y normal de la energía.

Solución Olympus

Los microscopios digitales de la serie DSX y los microscopios metalúrgicos de la serie BX proporcionan alta magnificación para observar defectos en patrones de cobre.

Microscopio digital de la serie DSX con el software Stream de Oympus.

Microscopio digital de la serie DSX con el software Stream de Oympus.

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Microscopio metalúrgico de la serie BX junto con el software Stream de Olympus.

Microscopio metalúrgico de la serie BX junto con el software Stream de Olympus.

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Imagen bajo alta magnificación del patrón de cobre

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Microscopio digital de la serie DSX=
Microscopio metalúrgico de la serie BX con método IR

Medición de los patrones de cobre

Las dimensiones de los hilos de cobre pueden tener efectos en la conducción eléctrica, por lo tanto los inspectores deben medirlas para asegurar la distribución segura y normal de la energía.

Solución Olympus

El microscopio digital DSX1000 de Olympus proporciona imágenes transversales de patrones de cobre en 3D para poder medir la altura y el ancho.

Microscopio digital de la serie DSX con el software Stream de Oympus.

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Imagen 3D de patrón de cobre

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Notas de aplicación

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