Soluciones de microscopios para
la fabricación de semiconductores
Marcado láser
Imprima el nombre de un producto en el empaque de IC mediante el marcado láser.
Inspección del aspecto de las marcas
La legibilidad del marcado láser es importante, ya que el sistema de automatización clasifica y ubica los chips IC según la determinación de las marcas. Sin embargo, la observación microscópica del marcado en un empaque de resina negro plantea desafíos debido al brillo producido por la iluminación del microscopio.
Solución Olympus
El microscopio digital DSX1000 de Olympus adquiere imágenes claras del marcado láser sin resplandor gracias a su función de alto rango dinámico (HRD, siglas en inglés).
Imagen normal
Imagen capturada con HDR
Notas de aplicación
Análisis de seccionamiento para matrices de esferas (BGA){Montaje superficial del empaque de semiconductores con el microscopio confocal láser OLS5000 de Olympus.
