_{Solutions de microscopie pour la fabrication de circuits imprimés}

Fabrication du substrat

Fabriquer un substrat à l’aide de verre et d’époxy, puis le recouvrir d’un film de cuivre. La rugosité de la surface du film de cuivre doit faire l’objet d’une inspection attentive, car elle affecte la qualité du circuit imprimé.

Analyse de la surface du substrat de cuivre

D’infimes défauts de surface affecteront la qualité du substrat. Les opérateurs doivent détecter et mesurer la taille de ces défauts (échelle d’un micron) sur la surface du substrat de cuivre.

Notre solution

Le microscope numérique DSX1000 permet d’obtenir des images 3D, permettant de facilement analyser l’état de la surface du substrat. Le microscope peut également mesurer la largeur et la profondeur de ces défauts infimes.

Analyse de la surface du substrat de cuivre

Une surface de substrat de cuivre rugueuse affectera la qualité de la stratification, il est donc essentiel de mesurer la rugosité de la surface du substrat de cuivre pour garantir la qualité des circuits imprimés. Il n’est pas possible d’utiliser un instrument de mesure de la rugosité par contact, car celui-ci créerait des défauts sur le substrat de cuivre.

Notre solution

Le microscope à balayage laser de la gamme OLS permet d’effectuer des mesures sans contact de la rugosité de la surface d’un substrat en cuivre. Il analyse sans endommager la surface et peut mesurer une surface rugueuse avec plus de précision qu’un interféromètre, grâce à sa résolution latérale élevée.