Soluzioni di microscopie per

la produzione di componenti in materiali semiconduttori

Incisione laser

Mediante un'incisione laser viene stampato un nome del prodotto nel package IC.

Ispezione dell'aspetto di incisioni

La leggibilità di incisioni laser è importante visto che il sistema automatico seleziona e posizione chip IC mentre identifica le incisioni. Tuttavia l'osservazione al microscopio di incisioni su un package di resine nere è difficile a causa dei riflessi prodotti dall'illuminazione del microscopio.

La nostra soluzione

Il nostro microscopio digitale DSX1000 permette di acquisire immagini chiare senza riflessi di incisioni laser grazie alla funzione High dynamic range (HDR).

Microscopio digitale della serie DSX

Microscopio digitale della serie DSX

Vedi informazioni del prodotto

Normale

Immagine normale

con effetto HDR

Immagine acquisita con HDR

Note applicative

Sezionamento delle analisi per Ball Grid Array

Analisi per sezioni del package semiconduttore di montaggio superficiale Ball Grid Array (BGA) mediante il microscopio confocale laser Olympus OLS5000

Maggior informazioni

Uso di un microscopio per ispezionare la bagnabilità della saldatura di componenti installate

Uso di un microscopio per ispezionare la bagnabilità della saldatura di componenti installate

Maggior informazioni