Profilometri ottici 3D per metrologia di superficie
Dati di superficie affidabili. Precisione dimostrabile.
I profilometri ottici 3D utilizzano la misurazione senza contatto per acquisire dati di superficie ad alta precisione e sono quindi ideali per parti delicate o complesse nel campo della scienza dei materiali, della ricerca e sviluppo e del controllo/assicurazione qualità della produzione. I profilometri ottici 3D Evident dettano un nuovo standard nella misurazione di precisione delle superfici, garantendo affidabilità di misurazione con dettagli superficiali precisi, accuratezza tracciabile e automazione intelligente.
Unendo la microscopia a scansione laser (LSM), l’interferometria a luce bianca (WLI) e la microscopia a variazione di messa a fuoco (FVM), i nostri profilometri ottici 3D pluripremiati offrono dettagli superficiali che rispecchiano fedelmente la forma su geometrie complesse. Identifica caratteristiche appena percettibili e variazioni superficiali con una chiarezza senza pari: utilizza LSM, WLI e FVM per rilevare difetti, convalidare i progetti e prendere decisioni affidabili che contribuiscono a migliorare la qualità e la resa del prodotto.
Sistemi di profilometro ottico 3D
LEXT OLS5500
Profilometro ottico 3D ibrido
- Misurazioni superficiali tracciabili dalla scala nanometrica a quella micrometrica
- Microscopia a scansione laser (LSM), interferometria a luce bianca (WLI) e microscopia a variazione di messa a fuoco (FVM) in un'unica piattaforma pluripremiata
- Il primo profilometro ottico 3D a offrire precisione e ripetibilità garantite* sia per le misurazioni LSM che per le misurazioni WLI
- La modalità WLI consente misurazioni fino a 40 volte più rapide rispetto ai sistemi LSM convenzionali.
- Precisione eccezionale su tutte le superfici grazie all'ottica progettata internamente
- L'interfaccia intuitiva e l'automazione intelligente semplificano le operazioni per utenti di qualsiasi livello
- Flussi di lavoro ad alta produttività potenziati dall'intelligenza artificiale con l'integrazione del software PRECiV™
*Dati basati sulla ricerca interna di Evident fino a ottobre 2025. La precisione e la ripetibilità garantite si applicano solo se il dispositivo è stato tarato in base alle specifiche del fabbricante ed è privo di difetti. La calibrazione deve essere eseguita da un tecnico Evident o da uno specialista autorizzato Evident.
Applicazioni e settori del profilometro ottico 3D
I profilometri ottici 3D Evident supportano un'ampia gamma di settori grazie alla misurazione precisa e senza contatto delle superfici. Dai semiconduttori ai polimeri, forniscono dati affidabili per il controllo qualità, la ricerca e la produzione di materiali e componenti avanzati.
Semiconduttori e MEMS
I profilometri ottici 3D sono ideali per l'ispezione di wafer di semiconduttori e componenti MEMS. Forniscono misurazioni precise della rugosità superficiale del wafer, del dislivello e dell'ampiezza delle linee di strutture sottili. Questi strumenti possono anche rilevare microfratture e contaminazioni della superficie senza alterarne le delicate caratteristiche.
Immagine WLI di un wafer di carburo di silicio (SiC).
Immagine WLI di un circuito stampato.
Componenti elettronici
Nella produzione di componenti elettronici, i profilometri ottici 3D aiutano gli utilizzatori a monitorare la rugosità superficiale delle tracce di rame e a identificare crepe o difetti sui circuiti stampati (PCB). Il metodo senza contatto garantisce un'analisi affidabile di superfici complesse e delicate.
Polimeri e compositi
I profilometri ottici 3D si utilizzano per misurare lo spessore dei film trasparenti, analizzare la rugosità superficiale e rilevare difetti di film polimerici e materiali compositi. Le loro immagini 3D ad alta risoluzione sono particolarmente utili per caratterizzare materiali stratificati o morbidi.
Immagine LSM di un film polimerico.
Immagine LSM di un cuscinetto a sfera.
Metalli e Leghe
La profilometria ottica 3D consente un'analisi rapida e senza contatto della rugosità superficiale e delle dimensioni dei grani di metalli e leghe. Supporta i processi di controllo qualità acquisendo dati topografici dettagliati che consentono di valutare l'usura, la finitura e la consistenza dei materiali.
Tecniche di metrologia superficiale a confronto
Ogni tecnica di metrologia superficiale con profilometria ottica 3D offre vantaggi unici per l'esplorazione della forma, della consistenza e dei dettagli più minuti dei campioni.
Microscopia a scansione laser (LSM)
Questo metodo offre un'elevata risoluzione di misurazione sia in direzione orizzontale che verticale e consente misurazioni bilanciate.
È ideale per la misurazione di microstrutture superficiali dai valori submicrometrici fino a qualche centinaio di micron.
Consente di misurare anche forme con angoli acuti.
Interferometria a luce bianca (WLI)
Adatta per superfici lisce e inclinate e per la misurazione di dislivelli di ordine nanometrico.
Sono possibili prestazioni costanti di misurazione dell'altezza con qualsiasi ingrandimento.
Microscopia a variazione di fuoco (FVM)
Adatta per catturare la forma macroscopica del campione.
Combinando la microscopia a variazione di fuoco (FVM) con la microscopia a scansione laser (LSM) o con l'interferometria a luce bianca (WLI) è possibile acquisire morfologie che spaziano dalle macro alle microstrutture.
Perché scegliere i profilometri ottici 3D EVIDENT
Competenza dimostrata nel campo dell'ottica
Nati da un secolo di eccellenza nell'ottica, gli obiettivi Evident realizzati internamente offrono una nitidezza senza confronti per rivelare i dettagli reali delle superfici su tutte le geometrie: superfici piane, pattern irregolari, dislivelli accentuati e trame fini. Gli obiettivi dedicati per microscopia laser e gli obiettivi WLI ad elevata apertura numerica (NA) garantiscono immagini ad alta fedeltà, mentre le opzioni di miglioramento del contrasto mettono in luce dettagli lievi o nascosti.
A sinistra: con le lenti convenzionali, la distorsione periferica aumenta e influisce sulla precisione della misurazione. A destra: con le lenti LEXT, l'area periferica viene riprodotta senza distorsioni, garantendo misurazioni accurate.
Pacchetto RF ripreso utilizzando tre tecniche di metrologia superficiale.
Soluzione di imaging completa
Tecnologia ibrida che combina tre tecniche di metrologia superficiale (microscopia a scansione laser (LSM), interferometria a luce bianca (WLI) e microscopia a variazione di messa a fuoco (FVM)) per una risoluzione a livello nanometrico su dislivelli accentuati e caratteristiche con un rapporto larghezza/altezza elevato. Misura qualsiasi campione, di dimensioni da nanometriche a millimetriche, da piano a irregolare, con WLI (superficie verticale), LSM (superficie laterale) e FVM (da macro a micro) su un'unica piattaforma di facile utilizzo.
Misurazione tracciabile senza contatto
I dati di superficie vengono acquisiti tramite la luce, non tramite il contatto fisico, rendendo i profilometri ottici Evident 3D ideali per materiali delicati, rivestimenti sottili e dispositivi MEMS. A differenza dei profilometri a stilo, eliminano il rischio di danneggiamento della superficie. Tutte le misurazioni vengono convalidate tramite il nostro processo di calibrazione tracciabile, offrendo risultati che dimostrabili durante audit, report e analisi della produzione. Il nostro Evident LEXT™ OLS5500 garantisce livelli di rumore delle misurazioni* conformi alla norma ISO 25178-700:2022 (1 nm con obiettivi MPLAPON 100X LEXT™ e 0,08 nm con obiettivi WLI) per il rilevamento ad alta risoluzione di variazioni topografiche lievi.
Esempio di schema del sistema di tracciabilità per lo standard AIST.
*Riceverai un certificato di garanzia relativo al rumore di misurazione. Si tratta di un valore indicativo misurato nelle condizioni specificate da Evident e potrebbe differire dal valore garantito.
*La precisione e la ripetibilità garantite si applicano solo se il dispositivo è stato calibrato in base alle specifiche del produttore ed è privo di difetti. La calibrazione deve essere eseguita da un tecnico Evident o da uno specialista autorizzato Evident.
Precisione e ripetibilità garantite
Misurazioni costanti e ad alta precisione nelle applicazioni di metrologia superficiale con il primo profilometro ottico 3D al mondo che garantisce precisione e ripetibilità* sia delle misurazioni LSM che delle misurazioni WLI: l'Evident LEXT™ OLS5500. I nostri profilometri ottici 3D garantiscono che ogni superficie possa essere misurata in modo chiaro e preciso, con calibrazione verificabile e registrazioni con data e ora.
Elevata produttività grazie all'automazione
Software intuitivi e automazione intelligente consentono risultati rapidi, affidabili e ripetibili su larga scala. Tavolini motorizzati, macro, imaging di grandi aree senza soluzione di continuità e analisi batch contribuiscono a ridurre il carico di lavoro dell'operatore e ad accelerare il controllo qualità. La modalità WLI dell'OLS5500 consente di aumentare ulteriormente l'efficienza, offrendo misurazioni fino a 40 volte più rapide rispetto alla microscopia a scansione laser convenzionale.
Automatizza le ispezioni con le macro: crea, modifica ed esegui procedure dai risultati affidabili.
Ottieni di più dalla metrologia 3D con il software PRECiV.
Ecosistema di software avanzato
Analisi intuitiva con parametri di rugosità (standard ISO, JIS), visualizzazione 3D e generazione di report automatici. L'integrazione del software PRECiV™ aggiunge a tutto ciò la metallografia di routine, flussi di lavoro ottimizzati dall'intelligenza artificiale e un'analisi 2D avanzata per supportare applicazioni specializzate e ambienti produttivi ad alto rendimento.
Come funzionano i profilometri ottici?
Grazie a due sistemi ottici, imaging a colori e laser confocale integrati, il profilometro ottico 3D LEXT OLS5500 è in grado di acquisire informazioni su colore e forma e immagini ad alta risoluzione.
Imaging a colori
Gli obiettivi per l'imaging a colori acquisiscono le informazioni utilizzando una sorgente luminosa LED a luce bianca e un sensore di immagini CMOS. Ciò consente una riproduzione precisa dei colori e una visione nitida delle caratteristiche superficiali.
Informazioni sulla forma 3D e immagini ad alta risoluzione
Gli obiettivi confocali laser acquisiscono immagini LSM utilizzando una sorgente luminosa a diodo laser da 405 nm e un fotomoltiplicatore ad alta sensibilità. Nel WLI, le informazioni sull'altezza vengono ottenute dalle frange di interferenza generate quando la luce proveniente da una sorgente di luce bianca viene scomposta da un divisore di fascio all'interno della lente dell'obiettivo e riflessa sia dalla superficie del campione che da una superficie di riferimento. L'FVM rileva informazioni sull'altezza, identificando la posizione Z in cui vi è il massimo contrasto dell'immagine.
FAQ sui profilometri ottici 3D
Risorse del profilometro ottico 3D
Portale per la misurazione della rugosità superficiale
Per approfondimenti e strumenti utili a quantificare con precisione la consistenza microscopica delle superfici, esplora il nostro portale dedicato alla misurazione della rugosità superficiale.
Parametri di misurazione della rugosità superficiale
Dal metodo basato sul profilo a quello basato sull'area, esplora i parametri chiave della rugosità per comprendere e quantificare con precisione la texture superficiale.
Come valutare i parametri di misura della rugosità superficiale
Approfondisci le tecniche pratiche per interpretare i parametri chiave della rugosità superficiale per l'analisi della texture 3D.