5G関連デバイスの開発・製造のために
品質を飛躍的に向上させる測定・検査顕微鏡ソリューション

5G関連デバイスの開発・製造のために 品質を飛躍的に向上させる測定・検査顕微鏡ソリューション

保証された測定精度

基地局アンテナの測定

5Gでは、通信の大容量化に向けて電波を特定の方向に強めたり、受信感度を高めたりするため、基地局で送受信に使うアンテナのパネルに、多数の素子を集積させる必要があります。

多くの素子からビームが照射される5Gアンテナは、ビーム同士が干渉してしまうという課題があり、ビーム発信源のアンテナ素子と回路が正確な形状をしている事が大前提となります。

基地局アンテナの測定

従来のデジタルマイクロスコープを使用した場合の課題

測長したデータに十分信頼を置けない場合があります。

エビデントのソリューション

DSX1000デジタルマイクロスコープは…
微小なアンテナ素子と回路の形状観察・高精度な測定が可能です。

DSX1000 デジタルマイクロスコープ

さらに詳しく

アンテナ回路形状測定

アンテナ回路形状測定

プリント基板の測定

5G環境を構成するコアネットワーク、大型・小型基地局、スマートフォン等のIoT端末等の電子機器には、多くのプリント基板が使用されています。

5G通信では、波長帯域の増加により部品点数の増加します。特にスマートフォンでは、プリント基板も小型化、薄型化に対応するため、フレキシブル基板(FPC)やビルドアップ基板が採用されたり、高周波特性に優れ、温度湿度に対する信頼性も高いLTCC基板も搭載されます。

プリント基板の測定

金属顕微鏡、従来のデジタルマイクロスコープを使用した場合の課題

材質により反射率が大きく違うため、均一な明るさで観察できないうえ、測長したデータに十分信頼を置けない場合があります。

エビデントのソリューション

Stream画像解析ソフトウェアは…
スローイングパワー計測によりスルーホール径の測定が容易に可能です。

BX53M, MX63

スローイングパワー計測をするには、金属顕微鏡BX53M、または大型基板観察用顕微鏡MX63/MX63Lと画像解析ソフトウェア OLYMPUS Streamを組み合わせる必要があります。

さらに詳しく

スルーホール径測画面

スルーホール径測画面

エビデントのソリューション

DSX1000デジタルマイクロスコープ及び、 STM7測定顕微鏡は…
パターン(幅・高さ)、ビア(径)、ランド(径・高さ)の高精度な測定が可能です。

DSX1000 デジタルマイクロスコープ

さらに詳しく

DSX1000によるパターン形状測定画面

DSX1000によるパターン形状測定画面

STM7 測定顕微鏡

さらに詳しく

STM7によるビア(径)の測定

STM7によるビア(径)の測定

ビアトップ 画像, ビアトップ 画像

ノイズフィルターの測定

SAWフィルターは、固体表面を伝わる振動を巧みに利用しスマートフォンなどの通信機器が無数の電波の中から必要な信号だけを取り出すのに用いられる電子部品です。

フィルターの小型化により、電極の微細化が要求されています。また、高周波信号に対応するため、フィルターの構造の変更も要求されています。

最近では、従来よりも高周波特性、温度特性に優れた、TF-SAWの採用も進んでいます。

ノイズフィルターの測定, ノイズフィルターの測定

金属顕微鏡、デジタルマイクロスコープを使用した場合の課題

測長したデータに十分信頼を置けない場合があります。

エビデントのソリューション

LEXT OLS5100 3D測定レーザー顕微鏡は… 微細な電極の高精度な測定が可能です。

OLS5100 3D測定レーザー顕微鏡

さらに詳しく

入力した電波は基板上に形成された電極を通過し、必要な周波数が選択されて出力される

SAW フィルタ電極の寸法計測

SAW フィルタ電極の寸法計測

積層セラミックコンデンサの測定

積層セラミックコンデンサは、セラミックスの誘電体と金属電極を多層化することで小型・大容量化を図ったチップ型コンデンサです。雑音を抑制する目的や回路定数を設定する目的など、ほとんどのエレクトロニクス機器に搭載されています。

5G環境を実現するには基地局やモバイル端末向けに大量のコンデンサが必要となります。主力の積層セラミックコンデンサは小型化の要求が増しており、電極、誘電体をさらに薄くする必要があります。

積層セラミックコンデンサの測定

金属顕微鏡、実体顕微鏡、従来のデジタルマイクロスコープを使用した場合の課題

電極と誘電体の反射率が大きく違うため、全体に適切な明るさで観察することができません。また、測長したデータに十分信頼を置けない場合があります。

エビデントのソリューション

DSX1000 デジタルマイクロスコープは…
微細な電極の高精度な測定が可能です。

DSX1000 デジタルマイクロスコープ

さらに詳しく

外側のキズ、欠け検査

電極と誘電体のレイヤーの状態観察と厚み計測

パッケージの測定

電子部品のパッケージとは、電子部品を包む樹脂などを指します。これらは中の素子を外部からの衝撃・湿度・熱・ガス・光線などから守り、接続端子を保護して、外部との間で正しく信号や電源を伝える役割を持ちます。

設計図に忠実な形状に製造されることが必要とされるため、さまざまな形状検査を行う必要があります。

サンプルご提供:KOSTECSYS CO.,LTD. www.kostec.net

サンプルご提供:KOSTECSYS CO.,LTD.
www.kostec.net.

測定顕微鏡を使用した場合の課題

測定顕微鏡は、サブμmオーダーの形状超微細化に対応できなくなっています。

エビデントのソリューション

LEXT OLS5100 3D測定レーザー顕微鏡は…
製品各部の計測を高精度に測定が可能です。

OLS5100 3D測定レーザー顕微鏡

さらに詳しく

赤枠部分を測定。プロファイルによって測定した任意の位置の断面形状がすぐに測定可能

赤枠部分を測定。プロファイルによって測定した任意の位置の断面形状がすぐに測定可能

光ファイバーの測定

光ファイバーは、光通信の伝送路として使用されています。電磁ノイズの影響を受けにくい特長があります。

5Gでは、伝送容量の拡張のためマルチコアファイバーが主流となると考えられています。コア間での信号光の漏れ込みを防ぐ対策とコア径とコア間隔の管理が求められています。

光ファイバーの測定

金属顕微鏡、実体顕微鏡を使用した場合の課題

均一な明るさで観察できないうえ、測長したデータに十分信頼が置けない場合があります。

エビデントのソリューション

DSX1000デジタルマイクロスコープは…
光ファイバーのコア径、コア間隔の高精度な測定が可能です。

DSX1000 デジタルマイクロスコープ

さらに詳しく

光ファイバーのコア径、コア間隔の高精度な測定が可能です

光ファイバーの測定

5Gのネットワークは、光ファイバー同士を接続することが多くありますが、接続損失(フレネル反射)が原因で光を減衰させることを避けなくてはなりません。

ファイバー同士の端面を球状にしたり、傾斜をつけていますが、その加工の管理が課題となっています。

測定顕微鏡や、従来のデジタルマイクロスコープを使用した場合の課題

端面の球形状や傾斜形状を正確に測定することは困難です。

エビデントのソリューション

LEXT OLS5100 3D測定レーザー顕微鏡は…
HDRスキャンによって、サンプル形状に応じた検出感度でデータ取得。

OLS5100 3D測定レーザー顕微鏡

さらに詳しく

球形状の画像取得の一例 : 従来機

球形状の画像取得の一例 : 従来機

球形状の画像取得の一例: OLS5100

球形状の画像取得の一例: OLS5100

同軸コネクタの測定

基幹通信網(コアネットワーク)、データセンター、大型基地局、小型基地局間は、光ファイバーでつながっています。高周波信号を大量に高速に伝送させる必要があります。

小型基地局での光ファイバーとの接続において、小型で且つ放熱性が高く、ノイズ対策が施された同軸コネクタが必要です。

同軸コネクタの測定

拡大鏡やノギスを使用した場合の課題

加工技術が従来より厳密に要求される部材の微細化により、拡大鏡やノギスでは観察·計測に対応できなくなっています。

エビデントのソリューション

STM7測定顕微鏡は…
顕微鏡検査および、数μmオーダーの測定が可能です。

STM7 測定顕微鏡

さらに詳しく

コネクタ先端径計測画面

コネクタ先端径計測画面

透過光を測定部に照射すると形状がクリアに投影され、正しい値が計測できる。

光ファイバー挿入口外観検査画面

観察倍率を高倍率にして製品のキズ、バリなどの外観検査を正確に行うことができる。