顕微鏡ソリューション

半導体製造工程

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IC 設計

IC 設計

IC設計会社は、設計したICチップの機能をチェックします。 また、ICチップメーカーは、試作段階でICチップを評価しています。

オリンパスDSX1000 は、簡単な操作でサブミクロンオーダーの回路を観察できます。

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インゴット製造

インゴット製造

半導体ウエハの製造方法は、どの半導体材でも同じです。 材料を溶解し、円柱の形に固めます。 円柱形になったシリコンは「インゴット」と呼ばれます。

スライスと研磨

スライスと研磨

次にインゴットをスライスします。 スライスされた薄いシリコンプレートはウェハと呼ばれます。 回路パターンが確実に形成されるように、ウェーハの上面と下面を研磨して平らにします。

ウェハを研磨した後、レーザーマーキング装置でシリアルNo.などをマーキングします。

オリンパスOLS5000 は、研磨後のウェハの表面粗さを計測できます。

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ウェハ表面の酸化

ウェハ表面の酸化

高温のオーブンでウェハ上に酸化膜を形成します。

フォトリソグラフィ

フォトリソグラフィ

フォトリソグラフィーは、ウェハ上に集積回路パターンを形成するプロセスです。

このプロセスを数回繰り返し、複雑な回路パターンを作ります。

オリンパスOLS5000 は、フォトレジストとパターンの厚さを測定できます。

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不純物拡散

不純物拡散

イオンビームを注入してウエハ材料の特性を変化させ、電子の流れる領域を形成します。

通電テスト

通電テスト

「プローバー」と呼ばれる電子テスターを使用して、ウェハが正しく動作するかどうかを確認します。

オリンパスDSX1000 は、プローブマークの3D画像をすばやく取得できます。

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ダイシング

ダイシング

高速で回転するブレードがウェハを個々のチップに切断します。

オリンパスOLS5000 は、チッピングサイズ管理をサポートしています。

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ダイボンディング

ダイボンディング

ICチップをリードフレームの指定された場所にマウントします。

オリンパスBXとMX は、ダイボンディング後の検出の検査と分析をサポートします。

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ワイヤボンディング

ワイヤボンディング

ワイヤーボンディングは、ICチップとリードフレームを接続する工程です。 ICチップは外部デバイスにワイヤーボンディングで接続されます。 リードフレームとICチップのアルミパッドにワイヤーを付け、圧力、超音波、熱を組み合わせて溶接します。

オリンパスはリードフレームに関して様々な解決策を提供いたします。ボンディングワイヤーやメッシュボール等。

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パッケージング

パッケージング

ICをエポキシ樹脂でパッケージングします。

オリンパスSZシリーズ は外観チェックに適しています。

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リードフレーム切断

リードフレーム切断

リードフレームをカットしてICチップを切り離します。

テスティング

テスティング

ICの欠陥を検出するため、信頼性試験、電気的特性試験、外観検査を実施します。

レーザーマーキング

レーザーマーキング

ICパッケージにレーザーマーキング装置で製品名を印刷します。

オリンパスDSX1000 はレーザーマーキングの画像を簡単に提供できます。

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