顕微鏡ソリューション半導体製造工程

IC 設計

IC設計会社は、設計したICチップの機能をチェックします。 また、ICチップメーカーは、試作段階でICチップを評価しています。

オリンパスのDSX1000 は、簡単な操作でサブミクロンオーダーの回路を観察できます。

ICチップの表面観察

IC設計企業は、設計したICチップをチェックします。 また、ICチップメーカーは、試作段階でICチップを評価しています。

私たちのソリューション

BX / MXシリーズは高倍率でumまたはサブumレベルの幅のラインで形成されたICパターンを観察するのに十分な解像力があります。

DSXシリーズは7,000倍の高倍率まで観察可能で、操作も簡単です。

STM series measuring microscope

半導体検査顕微鏡システム
MX + AL

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Metallurgical microscope system BX series

工業顕微鏡
BX

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Digital microscope DSX1000 series

デジタルマイクロスコープ
DSX1000

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アプリケーションノート

App note Detecting Manufacturing Defects

デジタルマイクロスコープを使用した半導体ウェーハの製造欠陥の検出

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Measuring the Thickness of Photoresist Film

フォトレジストフィルムの厚さの測定

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Inspecting Bonding Wires Using a Digital Microscope

デジタルマイクロスコープを使用したボンディングワイヤの検査

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