半导体晶圆和显示器检测设备
Evident半导体晶圆和平板显示器检测显微镜可提升效率水平，从而确保用户可以缩短启动时间、轻松操作、进行故障分析以及实现扩展性。
我们的系列半导体检测显微镜专为安全转移晶圆而设计，非常适合于半导体缺陷检测。 除自动晶圆处理系统外，还可使用数码显微镜对半导体内部的微小缺陷进行详细分析。
请通过下文了解我们的全系列平板显示器和半导体检测显微镜。
半导体晶圆检测显微镜
MX63/MX63L
MX63和MX63L显微镜系统经过优化，适用于最大300 mm晶圆的高质量检测。 它们的模块化设计兼容平板显示器、电路板和其他大型样品，让您可以选择所需的组件，根据自己的应用量身定制系统。
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