Lösungen für die Messung und Inspektion von 5G-Geräten
Garantierte Messgenauigkeit
Messung der Basisstationsantenne
Herausforderungen bei der Elementmessung
Ein herkömmliches Digitalmikroskop bietet möglicherweise keine garantierte Messgenauigkeit, sodass die Daten weniger zuverlässig sind
Garantierte Genauigkeit mit dem DSX1000
Die Messgenauigkeit und Wiederholbarkeit des DSX1000 Digitalmikroskops ist garantiert, sodass sich Prüfer auf die Daten verlassen können.
Messung der Form von Antennenschaltkreisen
Messen von Leiterplatten (PCBs)
Herausforderungen bei der Messung von Leiterplatten
Die Bildgebung von Leiterplatten kann schwierig sein, da der Reflexionsgrad je nach Material stark variiert. Ohne gleichmäßige Helligkeit sind die Messdaten möglicherweise nicht zuverlässig.
Messung von Durchgangslöchern
Die Messung von Durchgangslöchern gehört zu den Standardprüfungen von Leiterplatten, um die Herstellung des Bauteils entsprechend der Spezifikation sicherzustellen. Der Durchmesser des Durchgangslochs kann mit der Streufeldmessung der Stream Software und dem BX53M oder MX63 Mikroskop leicht ermittelt werden.
Bei Verwendung eines BX53M oder MX63/MX63L Mikroskops ist die Messung der Streulichtleistung mit der OLYMPUS Stream Software möglich.
Messung des Durchgangslochdurchmessers
Messung von Leiterplattenmustern
Sowohl das DSX1000 Digitalmikroskop als auch das STM7 Messmikroskop eignen sich für hochpräzise Messungen der Breite und Höhe von Durchkontaktierungen und Lötaugen in Leiterplatten.
Bildschirm zur Messung der Musterform mit dem DSX1000
Messung von Rauschfiltern
Herausforderungen bei der Messung von Rauschfilterelektroden
Metallurgische oder digitale Mikroskope können diese Elektroden aufgrund ihrer geringen Größe möglicherweise nicht zuverlässig vermessen.
Genaue Elektrodenmessungen
Das OLS5100 Laser-Mikroskop ermöglicht hochpräzise Messungen von feinen Elektroden mit garantierter Genauigkeit und Wiederholbarkeit.
Die Eingangswelle durchläuft die auf dem Substrat ausgebildeten Elektroden, und die gewünschte Frequenz wird ausgewählt und ausgegeben.
Messung der Abmessungen der SAW-Filterelektrode
Messung von Mehrschicht-Keramikkondensatoren
Herausforderungen bei der Messung von Mehrschichtkondensatoren
In der Regel werden metallurgische Mikroskope, Stereomikroskope und herkömmliche Digitalmikroskope zur Prüfung von Keramikkondensatoren verwendet. Allerdings ist die Reflexion der Elektroden und des Dielektrikums so unterschiedlich, dass es unmöglich ist, den gesamten Kondensator gleichzeitig zu betrachten.
Präzise Messungen von Mehrschicht-Keramikkondensatoren
Die Funktionen des DSX1000 Digitalmikroskop ermöglichen die Betrachtung der Form von winzigen Elektroden und der Dielektrika mit gleichmäßiger Helligkeit. Dank des telezentrischen optischen Systems des Mikroskops können wir die Messgenauigkeit aller DSX-Objektive bei allen Vergrößerungen garantieren.
Kontrolle auf Kratzer und Absplitterungen auf der Außenfläche
Untersuchung des Zustands und Dickenmessung von Elektroden und Dielektrikumschichten mit dem DSX1000 Digitalmikroskop
Messen von Gehäusen für elektronische Bauteile
Probe bereitgestellt von KOSTECSYS CO., LTD.
Herausforderungen bei der Messung von Gehäusen
Die Gehäuse von elektronischen Bauteilen sind extrem klein geworden (Submikrometerbereich), sodass sie nicht mehr mit einem Standard-Messmikroskop gemessen werden können.
Gehäusemessung im Submikrometerbereich
Die fortschrittlichen Messfunktionen des OLS5100 Laser-Mikroskops ermöglichen hochpräzise 3D-Messungen von feinen Elektroden mit garantierter Genauigkeit und Wiederholbarkeit.
Gemessen wird die Fläche, die von der roten Linie umgeben ist. Die Querschnittsform jeder im Profil gemessenen Position kann sofort gemessen werden.
Messung des Kerndurchmessers von Glasfaserleitern
Schwierigkeiten bei der Messung von Glasfaserleitern
Bei der Verwendung eines metallurgischen oder Stereomikroskops ist es oft nicht möglich, Untersuchungen mit gleichmäßiger Helligkeit durchzuführen, was zu unzuverlässigen Messdaten führt.
Genaue Messung des Faserkerns
Das DSX1000 Digitalmikroskop ermöglicht eine einfache Messung des Kerndurchmessers und des Kernabstands von Glasfasern mit garantierter Genauigkeit und Wiederholbarkeit.
Messung der Stirnflächen von Glasfaserleitern
Herausforderungen bei der Messung der Stirnflächen von Glasfaserleitern
Messmikroskope und herkömmliche Digitalmikroskope können die sphärische Form oder die schräge Form der Stirnfläche nicht genau messen.
Präzise Daten zur Form der Stirnflächen von Glasfaserleitern
Das OLS5100 Laser-Mikroskop nutzt die 4K-Scanning-Technologie, um genaue Daten von sphärischen Formen und steilen, nahezu vertikalen Schrägen zu erfassen.
Beispiel für ein sphärisches Bild : Konventionelles Gerät
Beispiel für ein sphärisches Bild : OLS5100
Messen von Glasfaser-Steckverbindern
Herausforderungen der konventionellen Messung
Im Laufe der Zeit sind Koaxialstecker so klein geworden, dass sie nicht mehr mit Lupen oder Messschiebern vermessen werden können.
Präzise Messung von Koaxialsteckern
Mit dem STM7 Messmikroskop können Anwender die Länge und Höhe von Glasfaser-Steckverbindern im Millimeter- bis Nanometerbereich messen.
Bildschirm zur Messung des Durchmessers der Steckerspitze:
Bei Bestrahlung des gemessenen Teils mit Durchlicht wird die Form deutlich projiziert, und der richtige Wert kann gemessen werden.
Bildschirm zur Prüfung des Aussehens des Einführungsschlitzes für Glasfaserleiter:
Durch Erhöhung der Vergrößerung kann das Produkt auf Kratzer, Grate usw. genau überprüft werden.