Équipement pour l’inspection de wafers de semi-conducteurs et d’écrans
Les microscopes Evident dédiés à l’inspection de wafers de semi-conducteurs et d’écrans plats offrent des niveaux d’efficacité extrêmement élevés et garantissent aux utilisateurs un démarrage rapide, une facilité d’utilisation, une gamme de processus d’analyses de défauts et des possibilités d’expansion.
Notre gamme de microscopes d’inspection de semi-conducteurs est conçue pour un transfert de wafers en toute sécurité et est parfaitement adaptée à l’inspection des semi-conducteurs. Outre l’intégration de systèmes automatisés de prise en charge des wafers, un microscope numérique peut être utilisé pour l’analyse détaillée de petits défauts des semi-conducteurs.
Explorez notre gamme complète de microscopes d’inspection de semi-conducteurs et d’écrans plats ci-dessous.
Microscope d’inspection de wafers de semi-conducteurs
AL120
La série AL120 dédiée à l’analyse de wafers consiste en un microscope d’inspection de semi-conducteurs ergonomique et facile d’utilisation qui permet de transférer facilement des wafers de semi-conducteurs composés et en silicium, y compris en carbure de silicium (SiC) et en arséniure de gallium (GaAs), de la cassette vers le statif du microscope, tout en offrant une grande polyvalence et des fonctionnalités avancées.
AL120-12
Idéal pour des inspections en dernière étape de production à moindre coût, le système d’analyse de wafers AL120-20 consiste en un microscope d’inspection de semi-conducteurs compatible à la fois avec les FOUP (boîtes unifiées à ouverture frontale) et les FOSB (caisses d’expédition à ouverture frontale). Grâce à une conception sûre et économique, le système permet à l’opérateur de travailler en toute sécurité tout en assurant un transfert efficace des wafers, y compris pour des wafers minces et déformés.
MX63 / MX63L
Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour des inspections de haute qualité de wafers pouvant mesurer jusqu’à 300 mm. Compatibles avec les écrans plats, les circuits imprimés et autres échantillons de grande taille, leur conception modulaire vous permet de sélectionner les composants dont vous avez besoin pour adapter le système à votre utilisation.
Équipement pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
Caméras numériques pour microscopes
Les caméras numériques pour microscopes Evident vous permettent d’acquérir des images de grande qualité de vos échantillons. Grâce à leur haute résolution et à leur excellente fidélité chromatique, nos caméras permettent d’afficher des images en cours d’acquisition nettes et en pleine résolution, de bénéficier d’une bonne qualité d’observation et d’une mise au point en temps réel.
Objectifs pour l’inspection de wafers de semi-conducteurs
La gamme d’objectifs MXPLFLN d’Evident a été conçue pour vous permettre de travailler simultanément en haute résolution et avec une grande distance frontale, ce qui est idéal pour l’inspection des wafers de semi-conducteurs.
Applications Associées
Inspection des Motifs de Circuits sur des échantillons de Wafers
Lorsqu’il est nécessaire d’observer au microscope à la fois le motif du circuit et la couleur d’un échantillon de wafer, la méthode classique fait appel à une illumination sur fond noir pour le premier et à une illumination sur fond clair pour le second, et requiert une permutation répétée entre les deux techniques. Cette méthode d’observation prend du temps, car il faut acquérir les images nécessaires à chaque technique au moment de créer un rapport.
Détection de Défauts sur des Plaquettes de Carbure de Silicium (SiC) Gravées
Le carbure de silicium (SiC) est un matériau important dans l'industrie des semi-conducteurs, car il est utilisé pour ses propriétés techniques et physiques dans les circuits modernes. Les dispositifs SiC révolutionnent l'électronique de puissance dans de nombreux secteurs, offrant une efficacité, une densité de puissance et une fiabilité accrues dans des applications telles que les véhicules électriques, les systèmes d'énergie renouvelable et les entraînements industriels.
Intégration de la Microscopie dans la Fabrication Automatisée de Composants Microélectroniques
Les composants microélectroniques dans les appareils électroniques font désormais partie de notre vie quotidienne, que ce soit dans les téléphones mobiles, les maisons ou les voitures connectées. Conçus avec des capteurs et des émetteurs optiques intelligents, ainsi qu’avec des modules logiques et de mémoire correspondants, ces composants de pointe nécessitent des installations de production hautement complexes, qui doivent porter une attention particulière à la manipulation et au contrôle de la qualité.
Catégories Connexes
Ressources supplémentaires pourl’inspection de wafers de semi-conducteurs
Optimisez votre microscope et votre flux opérationnel pour l’inspection de wafers
Découvrez comment les fabricants de wafers de semi-conducteurs peuvent améliorer le contrôle qualité lors de l’inspection de wafers grâce à l’optimisation de leurs équipements et de leurs flux opérationnels.
Utilité de l’imagerie proche infrarouge pour l’inspection des composants électroniques et des semi-conducteurs
Découvrez comment les microscopes d’inspection Evident améliorent l’imagerie proche infrarouge pour l’inspection des semi-conducteurs.
Inspection des motifs de circuits sur des échantillons de wafers
Découvrez comment les microscopes industriels MX63/MX63L d’Evident dédiés à l’inspection des semi-conducteurs et écrans plats constituent une alternative efficace aux méthodes conventionnelles d’observation de wafers.
