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Soluciones Evident para la electrónica
En la actualidad, la dimensión de los dispositivos electrónicos disminuye de manera avanzada, y asimismo lo hacen sus componentes. La inspección de microcircuitos, obleas (láminas) semiconductoras y otros componentes electrónicos es desafiante, ya que una sola pequeña pieza residual puede causar una disfunción.
Los fabricantes usan microscopios con dispositivos ópticos de alta calidad destinados a inspeccionar las conexiones soldadas en circuitos, la condición de los cables en las tarjetas/placas de circuito impresión y la monitorización de los objetos contaminantes. En algunas aplicaciones, la rugosidad de los componentes usados en un dispositivo será medida mediante microscopios confocales de escaneo láser sin contacto para asegurar la conformidad normativa.
Resources
Soluciones microscópicas para la fabricación de tarjetas/placas de circuito impreso (PCB)
Insights
Combinación de métodos de observación para una inspección más profunda de los defectos en obleas/plaquetas electrónicas
Ventajas de los microscopios láser para medir la rugosidad de la lámina de cobre utilizada en las placas de circuito impreso 5G
Control de calidad en la fabricación de productos electrónicos usando el software PRECiV™
Una forma inteligente de controlar la contaminación para metrología e inspecciones de alto rendimiento
De macro a micro: ¿Cómo los microscopios digitales están cambiando las inspecciones industriales?
Adquisición de imágenes de gran calidad a través de silicio sin dañar el producto acabado
Notas de aplicación
Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser
Inspecting Glass Fiber Peeling in a Printed Wiring Board’s Glass Epoxy Substrate—Clear Images Are Essential for Quality Control
Detección de defectos de fabricación en obleas de semiconductor usando un microscopio digital
Adquisición de imágenes claras y mediciones dimensionales precisas de un condensador cerámico laminado usando un microscopio digital
Measuring the Volume of Integrated Circuit Chipping After the Dicing Process Using a Digital Microscope
¿Cómo el grado de profundidad focal del microscopio digital permite llevar a cabo inspecciones completas en pines de conectores?
Inspecting the Cavity Profile of Xenon Difluoride (XeF2) Etched Silicon (Si) Wafers for Suspended Antenna-Coupled Nanothermocouples
Measuring the Layer Profiles of Thin-Film Solid-State Lithium-Ion Batteries Manufactured Using the Inkjet Technique
Medición de la rugosidad superficial de almohadillas troqueladas en marcos de conexión
Medición de la rugosidad superficial de los colectores de electrodos con batería de iones de litio
Using Image Analysis Software to Measure Throwing Power or PCB Copper Plating Thickness Uniformity
Evaluating the Coating on a Smartphone Housing / Film thickness measurement and 3D surface profile measurement using a laser microscope
Roughness Evaluation of the Inner Lead of a Lead Frame / Surface roughness measurement of a micro area using a laser microscope
Evaluación del perfil superficial de placas difusoras para LCD/Medición de forma en 3D sin contacto usando un microscopio láser
Perfil superficial de la placa de orientación de luz para LCD/Medición de forma en 3D sin contacto usando un microscopio láser
Medición de rugosidad superficial para sustratos de impresión flexibles usando el microscopio láser confocal OLS4100 de Olympus
Evaluating the Contacting Terminals of Wafer Level Chip Size Packages (CSPs) using the Olympus OLS4100 Laser Confocal Microscope
Utilización del microscopio láser confocal OLS5000 de Olympus para medir la rugosidad superficial de placas de circuito impreso
Sectioning Analysis for Ball Grid Array (BGA) Surface Mounting of Semiconductor Package using the Olympus OLS5000 Laser Confocal Microscope
Maximizing Data Recovery: Utilizing 3D Digital Laser Microscopy to Image Damaged Optical Media
Videos
DSX1000: Demonstration Guaranteed The Accuracy and Repeatability ---
DSX1000: Demonstration Stiching Function
DSX1000: Demonstration Reproduction Function of Observation Conditions
DSX1000: Demonstration Various Observation Method With One Touch
DSX1000: Demonstration Best Image Function
DSX1000: Demonstration Free Angle Observation System
DSX1000: Demonstration Wide Field Range Observation from Macro to Micro
Folletos infográficos
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