半導体ウェーハおよびディスプレイ検査機器
Evidentの半導体ウェハ / FPD検査顕微鏡は、高速起動、使いやすさ、不具合分析、拡張性を提供し、高いレベルでの効率化を実現します。
当社の半導体検査顕微鏡ラインアップは、ウェハの安全に搬送するように設計されており、半導体の欠陥検査に最適です。自動ウェハ処理システムに加えて、半導体内部の小さな欠陥の詳細な解析にはデジタルマイクロスコープも選択できます。
半導体 / FPD検査顕微鏡のラインアップを以下でご覧ください。
半導体ウェハ検査用顕微鏡
MX63 / MX63L
MX63およびMX63Lは、最大300mmサイズのウェハや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。FPD、回路基板、その他の大型サンプルに対応するモジュール式設計により、用途に合わせて必要なコンポーネントを選択できます。
半導体 / FPD検査機器
顕微鏡用デジタルカメラ
当社の顕微鏡用デジタルカメラにより、サンプルを高画質で撮影できます。高い分解能と優れた色再現力を備えた当社のカメラは、鮮明なライブ画像をフル解像度で表示し、明確な観察とリアルタイムフォーカスを可能にします。
半導体ウェハ検査のその他の資料
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