電子製品 | Olympus IMS

電子製品

業界別ソリューション

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/ELECTRONICS_MASTER.mp4

エビデントの電子製品ソリューション

電子製品は小型化の一途にあり、コンポーネントも同様です。超小型回路、半導体ウェハなどの電子製品は、微小なごみが混入しても故障の原因となるため、検査は困難を極めます。

製造現場では、回路の半田付け箇所、プリント基板のワイヤの状態を点検したり汚染を見つけたりするために、高品質の光学系を搭載した顕微鏡が用いられます。非接触レーザー共焦点顕微鏡を用いて、デバイスで使用されるコンポーネントの堅牢性を測定し、厳しい基準に確実に適合させるアプリケーションもあります。

Resources

5G機器の測定および検査ソリューション

5G機器の測定および検査ソリューション

半導体製造向け顕微鏡ソリューション

プリント基板製造向け顕微鏡ソリューション

リチウムイオン電池製造向け顕微鏡ソリューション

その他の資料

Blog (19)

MIX観察で光学検査装置を簡単にグレードアップ

食品用ラップの静電気と表面粗さ：実験

5Gプリント基板に使用される銅箔の粗さ測定用レーザー顕微鏡の利点

電子機器製造におけるPRECiV™ソフトウェアを使用した品質管理

検査装置組み込み部品のコンタミネーション対応にお勧めの「吸引機能付き電動レボルバー」

DSX1000デジタルマイクロスコープの5つの特長

デジタルマイクロスコープとは？

ASNT 2018 まとめ

マクロからミクロまで：デジタルマイクロスコープは工業検査をどのように変えるのか

おもちゃに潜む有害物質を検出する（英語）

最終製品に傷つけず、シリコンを透過して高品質画像を取得する

画像解析ソフトウェアを使用してテルル化亜鉛カドミウム中の粒子を自動検出する

Vantaハンドヘルド蛍光X線分析計を使用した消費財検査

顕微鏡法アプリケーションにおけるLED照明化の傾向

実体顕微鏡を学ぶ

全自動顕微鏡システムの利点

ケーラー照明を最大限に活用

画像診断データベースが何ができるのでしょうか。

厚さ計の測定結果を、Excelに取り込んで活用してみませんか？

アプリケーションノート (48)

高分解能レンズでの高精度測定 – 高解像デジタルマイクロスコープによる積層セラミックコンデンサの内部レイヤー厚さ計測

プリント配線板回路形状測定ーデジタルマイクロスコープによる高精度な形状測定

プリント配線板ガラスエポキシ基板のガラス繊維はく離検査ーデジタルマイクロスコープによる鮮明な画像での品質管理

半導体ウエハー製造工程で発生する欠陥を検出ーデジタルマイクロスコープによる外観検査

積層セラミックコンデンサーの外形寸法測定と外観検査ーデジタルマイクロスコープによる正確な寸法測定とクリアな画像取得

ダイシング工程後のICチッピング量測定ーデジタルマイクロスコープによるIC製造工程における高い精度測定

コネクタピンの外観検査 - デジタルマイクロスコープによる深い焦点深度で精密検査

ボンディングワイヤの外観検査 - デジタルマイクロスコープによる深い焦点深度かつ高い解像力のレンズでの高品質検査

アンテナ結合ナノ熱電対用二フッ化キセノン（XeF2）でエッチングしたシリコン（Si）ウェハーの空洞プロファイルを検査

ボンディングワイヤボールの形状測定

フォトレジストの膜厚測定

マイクロバンプの高さ測定

車載用カメラレンズの傷形状計測

車載ミリ波レーダー基板回路の形状測定

インクジェット製法による薄膜型全固体リチウム電池のレイヤー形状計測

リードフレームダイパッド部粗さ測定

リチウムイオン電池電極のレーザー顕微鏡による粗さ測定

リチウムイオン電池集電体材料の表面形状検査

実装部品はんだぬれ状態の顕微鏡検査

非接触・表面粗さの評価 - 面領域での画像取得

ウエハサンプル上の回路パターン検査

スローイングパワー計測

フレキシブルプリント基板の配線検査

バンプ剥離後の接合面のAu面積率測定

プリント基板のスルーホール内の異物

コンデンサのエンボスキャリアテープの寸法測定

ガラス表面に塗布した透明膜の段差測定

スマートフォンケースのコーティング評価 – レーザー顕微鏡による膜厚測定と3D表面形状測定

リードフレームのインナーリードの粗さ評価 – レーザー顕微鏡による微細箇所の表面粗さ測定

液晶ディスプレイ用拡散板の表面形状評価－レーザー顕微鏡による非接触3D形状測定

液晶ディスプレイ用導光板の表面形状－レーザー顕微鏡による非接触3D形状測定

伝送路（インターコネクト）の定量的検査

手頃な太陽エネルギーの将来に向けて

薄膜の電気機械的挙動の研究 (英語）

フレキシブルプリント基板フィルム表面粗さ測定

ウエハレベルCSPの端子部評価

プリント基板樹脂部表面粗さ測定

半導体パッケージのBGA実装断面解析

PTBによる光学測定用キャリブレーション標準の研究（英語）

PGAパッケージの不良検査と記録

半導体パッケージのBGA実装断面解析

ベアウエハのレーザーマーク

太陽電池材料の研究

光ディスクのデータ復旧

医療機器のRoHS指令対応に活躍するハンドヘルド蛍光X線分析計

品質検査のデジタル化

さまざまな可能性につながるキルトパッケージング技術

鉛（Pb）、カドミウム（Cd）を含む有害金属の検査：生活・家庭用品向けハンドヘルド蛍光X線分析計

ビデオ (28)

CIX100 - Technical Cleanliness Inspection System

Infographics (2)

VANTAインフォグラフィック(英語)

SZX Ergonomic Infographic

ソリューション (2)

VANTA - 品質管理・品質保証用

オンラインセミナー (1)

オンラインセミナー : XRF-コンシューマー製品の検査における合理的な蛍光X線分析（英語）

カタログ (10)

VANTA - 合金・PMI(材料検証)カタログ

VANTAスペックシート

工業用顕微鏡総合カタログ

工業用内視鏡総合カタログ

MX63/MX63L カタログ

LC30 Microscope Digital Camera

Vanta™ハンドヘルド蛍光X線分析計

正立金属顕微鏡システムBX61 カタログ

BX53M/BXFM 正立工業用顕微鏡システムカタログ

フェーズドアレイプローブカタログ

論文・技術資料 (3)

高周波数超音波探触子を使用するアプリケーションでの留意事項

表面を「創る」

レーザー顕微鏡の基本原理

解説資料 (4)

欠陥検査解説資料（英語）

超音波フェーズドアレイチュートリアル

渦流アレイチュートリアル

超音波厚さ測定チュートリアル

FAQ (3)

顕微鏡を学ぶ

探触子についてよくある質問

マニュアル (1)

Vantaシリーズ蛍光X線分析計スタートアップガイド

Books (1)

LEXT 表面粗さ測定入門書